| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна без ПДВ |
|---|---|---|---|---|---|
| WAFFLE PACK | Microsemi | WAFFLE PACK^MICROSEMI |
товар відсутній |
||
| WAFFLE PACK | Microsemi | WAFFLE PACK^MICROSEMI |
товар відсутній |
||
| WAFFLE PACK | Microsemi | WAFFLE PACK^MICROSEMI-ASA |
товар відсутній |
||
| WAFFLE PACK | Microsemi | WAFFLE PACK^MICROSEMI |
товар відсутній |
||
| WAFFLE PACK | Microsemi | WAFFLE PACK^MICROSEMI-ASA |
товар відсутній |
||
| WAFFLE PACK | Microsemi | WAFFLE PACK^MICROSEMI-ASA |
товар відсутній |
||
| DZ941216A (DESTRUCT UNITS) | Microsemi | DZ941216A (DESTRUCT UNITS)^MICROSEMI |
товар відсутній |
||
| DESTRUCT UNITS - CHART 2B TESTING | Microsemi | Inventory consumed in destructive testing |
товар відсутній |
||
| DZ941216A (DESTRUCT UNITS) | Microsemi | DZ941216A (DESTRUCT UNITS)^MICROSEMI |
товар відсутній |
||
| DESTRUCT UNITS GROUP TESTING | Microsemi | DESTRUCT UNITS GROUP TESTING^MICROSEMI |
товар відсутній |
||
| DESTRUCT UNITS GROUP TESTING | Microsemi | DESTRUCT UNITS GROUP TESTING^MICROSEMI |
товар відсутній |
||
| DESTRUCT UNITS - CHART 2B TESTING | Microsemi | Inventory consumed in destructive testing |
товар відсутній |
||
| DESTRUCT UNITS - LAT 1 TESTING | Microsemi | Inventory consumed in destructive testing |
товар відсутній |
||
| DESTRUCT UNITS GROUP TESTING | Microsemi | DESTRUCT UNITS GROUP TESTING^MICROSEMI |
товар відсутній |
||
| DESTRUCT UNITS - CHART 2B TESTING | Microsemi | Inventory consumed in destructive testing |
товар відсутній |
||
| DESTRUCT UNITS - CHART 2B TESTING | Microsemi | Inventory consumed in destructive testing |
товар відсутній |
||
| DESTRUCT UNITS - LAT 1 TESTING | Microsemi | Inventory consumed in destructive testing |
товар відсутній |
||
| DESTRUCT UNITS - LAT 1 TESTING | Microsemi | Inventory consumed in destructive testing |
товар відсутній |
||
| DESTRUCT UNITS - CHART 2B TESTING | Microsemi | Inventory consumed in destructive testing |
товар відсутній |
||
| DESTRUCT UNITS - LAT 1 TESTING | Microsemi | Inventory consumed in destructive testing |
товар відсутній |
||
| DZ941216A (DESTRUCT UNITS) | Microsemi | DZ941216A (DESTRUCT UNITS)^MICROSEMI |
товар відсутній |
||
| DESTRUCT UNITS GROUP TESTING | Microsemi | DESTRUCT UNITS GROUP TESTING^MICROSEMI |
товар відсутній |
||
| DZ941216A (DESTRUCT UNITS) | Microsemi | DZ941216A (DESTRUCT UNITS)^MICROSEMI |
товар відсутній |
||
| DESTRUCT UNITS - LAT 1 TESTING | Microsemi | Inventory consumed in destructive testing |
товар відсутній |
||
| DESTRUCT UNITS - CHART 2B TESTING | Microsemi | Inventory consumed in destructive testing |
товар відсутній |
||
| DZ941216A (DESTRUCT UNITS) | Microsemi | DZ941216A (DESTRUCT UNITS)^MICROSEMI |
товар відсутній |
||
| DZ941216A (DESTRUCT UNITS) | Microsemi | DZ941216A (DESTRUCT UNITS)^MICROSEMI |
товар відсутній |
||
| JANS2N3637L-DESTRUCT | Microsemi |
 Trans GP BJT PNP 175V 1A 1000mW 3-Pin TO-5 Tray |
товар відсутній |
||
| DESTRUCT UNITS - CHART 2B TESTING | Microsemi | Inventory consumed in destructive testing |
товар відсутній |
||
| DESTRUCT UNITS - LAT 1 TESTING | Microsemi | Inventory consumed in destructive testing |
товар відсутній |
||
| MSFC60-08 | Microsemi |
SCR Module 800V 1500A 5-Pin Case F1 |
товар відсутній |
||
| MSFC160-12 | Microsemi |
SCR Module 1200V 5400A 5-Pin Case F2 |
товар відсутній |
||
| MSFC160-08 | Microsemi |
SCR Module 800V 5400A 5-Pin Case F2 |
товар відсутній |
||
| MSFC130-16 | Microsemi |
SCR Module 1600V 4700A 5-Pin Case F2 |
товар відсутній |
||
| MSFC130-12 | Microsemi |
SCR Module 1200V 4700A 5-Pin Case F2 |
товар відсутній |
||
| MSFC130-08 | Microsemi |
SCR Module 800V 4700A 5-Pin Case F2 |
товар відсутній |
||
 |
MSFC110-16 | Microsemi |
SCR Module 600V 2250A 5-Pin Case F1 |
товар відсутній |
|
| MSFC110-12 | Microsemi |
SCR Module 1200V 2250A 5-Pin Case F1 |
товар відсутній |
||
| MSFC110-08 | Microsemi |
SCR Module 800V 2250A 5-Pin Case F1 |
товар відсутній |
||
| MSFC25-08 | Microsemi |
SCR Module 800V 550A 5-Pin Case F1 |
товар відсутній |
||
| MSFC25-16 | Microsemi |
SCR Module 1600V 550A 5-Pin Case F1 |
товар відсутній |
||
| MSFC25-12 | Microsemi |
SCR Module Diode 1200V 550A 5-Pin Case F1 |
товар відсутній |
||
 |
MSFC160-16 | Microsemi |
SCR Module 1600V 5400A 5-Pin Case F2 |
товар відсутній |
|
| MSFC90-08 | Microsemi |
SCR Module Diode 800V 2000A 5-Pin Case F1 |
товар відсутній |
||
| MSFC60-16 | Microsemi |
SCR Module 1600V 1500A 5-Pin Case F1 |
товар відсутній |
||
| MSFC40-12 | Microsemi |
SCR Module 1200V 1000A 5-Pin Case F1 |
товар відсутній |
||
| MSFC40-08 | Microsemi |
SCR Module Diode 800V 1000A 5-Pin Case F1 |
товар відсутній |
||
 |
SM12E3/TR7 | Microsemi |
ESD Suppressor Diode TVS Uni-Dir/Bi-Dir 12V 24Vc 3-Pin SOT-23 T/R |
товар відсутній |
|
| A54SX16-CQ256B | Microsemi |
FPGA SX Family 16K Gates 924 Cells 205MHz 0.35um Technology 3.3V/5V 256-Pin CQFP |
товар відсутній |
||
| 5962-9956903QYC | Microsemi |
FPGA SX Family 16K Gates 924 Cells 205MHz 0.35um Technology 3.3V/5V 208-Pin CQFP |
товар відсутній |
||
| 5962-9956903QXC | Microsemi |
FPGA SX Family 16K Gates 924 Cells 205MHz 0.35um Technology 3.3V/5V 256-Pin CQFP |
товар відсутній |
||
| 5962-9956904QYC | Microsemi |
FPGA SX Family 16K Gates 924 Cells 240MHz 0.35um Technology 3.3V/5V 208-Pin CQFP |
товар відсутній |
||
| 5962-9956904QXC | Microsemi |
FPGA SX Family 16K Gates 924 Cells 240MHz 0.35um Technology 3.3V/5V 256-Pin CQFP |
товар відсутній |
||
| A54SX16-1CQ256B | Microsemi |
FPGA SX Family 16K Gates 924 Cells 240MHz 0.35um Technology 3.3V/5V 256-Pin CQFP |
товар відсутній |
||
| CHF1.5KE56CA | Microsemi |
TVS Diode Single Bi-Dir 47.8V 1.5KW 2-Pin Flip-Chip |
товар відсутній |
||
 |
LX1973BIPL | Microsemi |
Light to Voltage Ambient Light Sensor 5V Automotive 8-Pin MSOP |
товар відсутній |
|
 |
MSCD70-18 | Microsemi |
Diode 1.8KV 70A 3-Pin Case D1 |
товар відсутній |
|
 |
APT25GF120JCU2 | Microsemi |
Trans IGBT Module N-CH 1200V 45A 227000mW |
товар відсутній |
|
| JAN1N1124A | Microsemi |
Rectifier Diode Switching 200V 3.3A 2-Pin DO-4 Tray |
товар відсутній |
||
| MX-043-0002-10M0000000 | Microsemi | 611203011 |
товар відсутній |
| DESTRUCT UNITS - CHART 2B TESTING |
Виробник: Microsemi
Inventory consumed in destructive testing
Inventory consumed in destructive testing
товар відсутній
| DESTRUCT UNITS GROUP TESTING |
Виробник: Microsemi
DESTRUCT UNITS GROUP TESTING^MICROSEMI
DESTRUCT UNITS GROUP TESTING^MICROSEMI
товар відсутній
| DESTRUCT UNITS GROUP TESTING |
Виробник: Microsemi
DESTRUCT UNITS GROUP TESTING^MICROSEMI
DESTRUCT UNITS GROUP TESTING^MICROSEMI
товар відсутній
| DESTRUCT UNITS - CHART 2B TESTING |
Виробник: Microsemi
Inventory consumed in destructive testing
Inventory consumed in destructive testing
товар відсутній
| DESTRUCT UNITS - LAT 1 TESTING |
Виробник: Microsemi
Inventory consumed in destructive testing
Inventory consumed in destructive testing
товар відсутній
| DESTRUCT UNITS GROUP TESTING |
Виробник: Microsemi
DESTRUCT UNITS GROUP TESTING^MICROSEMI
DESTRUCT UNITS GROUP TESTING^MICROSEMI
товар відсутній
| DESTRUCT UNITS - CHART 2B TESTING |
Виробник: Microsemi
Inventory consumed in destructive testing
Inventory consumed in destructive testing
товар відсутній
| DESTRUCT UNITS - CHART 2B TESTING |
Виробник: Microsemi
Inventory consumed in destructive testing
Inventory consumed in destructive testing
товар відсутній
| DESTRUCT UNITS - LAT 1 TESTING |
Виробник: Microsemi
Inventory consumed in destructive testing
Inventory consumed in destructive testing
товар відсутній
| DESTRUCT UNITS - LAT 1 TESTING |
Виробник: Microsemi
Inventory consumed in destructive testing
Inventory consumed in destructive testing
товар відсутній
| DESTRUCT UNITS - CHART 2B TESTING |
Виробник: Microsemi
Inventory consumed in destructive testing
Inventory consumed in destructive testing
товар відсутній
| DESTRUCT UNITS - LAT 1 TESTING |
Виробник: Microsemi
Inventory consumed in destructive testing
Inventory consumed in destructive testing
товар відсутній
| DESTRUCT UNITS GROUP TESTING |
Виробник: Microsemi
DESTRUCT UNITS GROUP TESTING^MICROSEMI
DESTRUCT UNITS GROUP TESTING^MICROSEMI
товар відсутній
| DESTRUCT UNITS - LAT 1 TESTING |
Виробник: Microsemi
Inventory consumed in destructive testing
Inventory consumed in destructive testing
товар відсутній
| DESTRUCT UNITS - CHART 2B TESTING |
Виробник: Microsemi
Inventory consumed in destructive testing
Inventory consumed in destructive testing
товар відсутній
| JANS2N3637L-DESTRUCT |
|
Виробник: Microsemi
Trans GP BJT PNP 175V 1A 1000mW 3-Pin TO-5 Tray
Trans GP BJT PNP 175V 1A 1000mW 3-Pin TO-5 Tray
товар відсутній
| DESTRUCT UNITS - CHART 2B TESTING |
Виробник: Microsemi
Inventory consumed in destructive testing
Inventory consumed in destructive testing
товар відсутній
| DESTRUCT UNITS - LAT 1 TESTING |
Виробник: Microsemi
Inventory consumed in destructive testing
Inventory consumed in destructive testing
товар відсутній
| SM12E3/TR7 |
|
Виробник: Microsemi
ESD Suppressor Diode TVS Uni-Dir/Bi-Dir 12V 24Vc 3-Pin SOT-23 T/R
ESD Suppressor Diode TVS Uni-Dir/Bi-Dir 12V 24Vc 3-Pin SOT-23 T/R
товар відсутній
| A54SX16-CQ256B |
|
Виробник: Microsemi
FPGA SX Family 16K Gates 924 Cells 205MHz 0.35um Technology 3.3V/5V 256-Pin CQFP
FPGA SX Family 16K Gates 924 Cells 205MHz 0.35um Technology 3.3V/5V 256-Pin CQFP
товар відсутній
| 5962-9956903QYC |
|
Виробник: Microsemi
FPGA SX Family 16K Gates 924 Cells 205MHz 0.35um Technology 3.3V/5V 208-Pin CQFP
FPGA SX Family 16K Gates 924 Cells 205MHz 0.35um Technology 3.3V/5V 208-Pin CQFP
товар відсутній
| 5962-9956903QXC |
|
Виробник: Microsemi
FPGA SX Family 16K Gates 924 Cells 205MHz 0.35um Technology 3.3V/5V 256-Pin CQFP
FPGA SX Family 16K Gates 924 Cells 205MHz 0.35um Technology 3.3V/5V 256-Pin CQFP
товар відсутній
| 5962-9956904QYC |
|
Виробник: Microsemi
FPGA SX Family 16K Gates 924 Cells 240MHz 0.35um Technology 3.3V/5V 208-Pin CQFP
FPGA SX Family 16K Gates 924 Cells 240MHz 0.35um Technology 3.3V/5V 208-Pin CQFP
товар відсутній
| 5962-9956904QXC |
|
Виробник: Microsemi
FPGA SX Family 16K Gates 924 Cells 240MHz 0.35um Technology 3.3V/5V 256-Pin CQFP
FPGA SX Family 16K Gates 924 Cells 240MHz 0.35um Technology 3.3V/5V 256-Pin CQFP
товар відсутній
| A54SX16-1CQ256B |
|
Виробник: Microsemi
FPGA SX Family 16K Gates 924 Cells 240MHz 0.35um Technology 3.3V/5V 256-Pin CQFP
FPGA SX Family 16K Gates 924 Cells 240MHz 0.35um Technology 3.3V/5V 256-Pin CQFP
товар відсутній
| LX1973BIPL |
|
Виробник: Microsemi
Light to Voltage Ambient Light Sensor 5V Automotive 8-Pin MSOP
Light to Voltage Ambient Light Sensor 5V Automotive 8-Pin MSOP
товар відсутній