CPF0805B4R64E1 TE CONNECTIVITY - NEOHM
Виробник: TE CONNECTIVITY - NEOHM
Description: TE CONNECTIVITY - NEOHM - CPF0805B4R64E1 - Chipwiderstand, Oberflächenmontage, 4.64 ohm, ± 0.1%, 100 mW, 0805 [Metrisch 2012]
tariffCode: 85332100
rohsCompliant: YES
Bauform/Gehäuse des Widerstands: 0805 [Metrisch 2012]
Widerstandstechnologie: Dünnschichtwiderstand
hazardous: false
rohsPhthalatesCompliant: YES
Qualifikation: -
Nennleistung: 100mW
Widerstandstyp: Präzisionswiderstand
isCanonical: Y
Widerstand: 4.64ohm
usEccn: EAR99
Betriebstemperatur, min.: -55°C
Widerstandstoleranz: ± 0.1%
Temperaturkoeffizient: ± 25ppm/°C
Produktlänge: 2.01mm
euEccn: NLR
Produktpalette: CPF Series
productTraceability: Yes-Date/Lot Code
Nennspannung: 100V
Betriebstemperatur, max.: 155°C
Produktbreite: 1.25mm
SVHC: No SVHC (25-Jun-2025)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 51+ | 16.15 грн |
| 68+ | 12.09 грн |
| 100+ | 11.44 грн |
| 250+ | 9.87 грн |
| 500+ | 8.76 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис CPF0805B4R64E1 TE CONNECTIVITY - NEOHM
Description: TE CONNECTIVITY - NEOHM - CPF0805B4R64E1 - Chipwiderstand, Oberflächenmontage, 4.64 ohm, ± 0.1%, 100 mW, 0805 [Metrisch 2012], tariffCode: 85332100, rohsCompliant: YES, Bauform/Gehäuse des Widerstands: 0805 [Metrisch 2012], Widerstandstechnologie: Dünnschichtwiderstand, hazardous: false, rohsPhthalatesCompliant: YES, Qualifikation: -, Nennleistung: 100mW, Widerstandstyp: Präzisionswiderstand, isCanonical: Y, Widerstand: 4.64ohm, usEccn: EAR99, Betriebstemperatur, min.: -55°C, Widerstandstoleranz: ± 0.1%, Temperaturkoeffizient: ± 25ppm/°C, Produktlänge: 2.01mm, euEccn: NLR, Produktpalette: CPF Series, productTraceability: Yes-Date/Lot Code, Nennspannung: 100V, Betriebstemperatur, max.: 155°C, Produktbreite: 1.25mm, SVHC: No SVHC (25-Jun-2025).
Інші пропозиції CPF0805B4R64E1
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна |
|---|---|---|---|---|---|
 |
CPF0805B4R64E1 | Виробник : TE Connectivity / CGS | Thin Film Resistors - SMD CPF 0805 4R64 0.1% 25ppm 1K RL |
товару немає в наявності |