Технічний опис ELJFA120KF PANASONIC
Description: FIXED IND 12UH 125MA 2.5 OHM SMD, Tolerance: ±10%, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: 1210 (3225 Metric), Size / Dimension: 0.126" L x 0.098" W (3.20mm x 2.50mm), Mounting Type: Surface Mount, Shielding: Unshielded, Type: Wirewound, Operating Temperature: -20°C ~ 85°C, DC Resistance (DCR): 2.5Ohm Max, Q @ Freq: 30 @ 2.52MHz, Frequency - Self Resonant: 33MHz, Inductance Frequency - Test: 2.52 MHz, Height - Seated (Max): 0.094" (2.40mm), Inductance: 12 µH, Current Rating (Amps): 125 mA.
Інші пропозиції ELJFA120KF
Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна |
---|---|---|---|---|---|
ELJFA120KF | Виробник : PANASONIC | 02+ |
на замовлення 1888 шт: термін постачання 14-28 дні (днів) |
||
ELJFA120KF | Виробник : PANASONIC | DO214 |
на замовлення 507 шт: термін постачання 14-28 дні (днів) |
||
![]() |
ELJFA120KF | Виробник : Panasonic |
![]() |
товару немає в наявності |
|
![]() |
ELJ-FA120KF | Виробник : Panasonic Electronic Components |
![]() Tolerance: ±10% Packaging: Tape & Reel (TR) Package / Case: 1210 (3225 Metric) Size / Dimension: 0.126" L x 0.098" W (3.20mm x 2.50mm) Mounting Type: Surface Mount Shielding: Unshielded Type: Wirewound Operating Temperature: -20°C ~ 85°C DC Resistance (DCR): 2.5Ohm Max Q @ Freq: 30 @ 2.52MHz Frequency - Self Resonant: 33MHz Inductance Frequency - Test: 2.52 MHz Height - Seated (Max): 0.094" (2.40mm) Inductance: 12 µH Current Rating (Amps): 125 mA |
товару немає в наявності |
|
![]() |
ELJ-FA120KF | Виробник : Panasonic Electronic Components |
![]() Packaging: Cut Tape (CT) Tolerance: ±10% Package / Case: 1210 (3225 Metric) Size / Dimension: 0.126" L x 0.098" W (3.20mm x 2.50mm) Mounting Type: Surface Mount Shielding: Unshielded Type: Wirewound Operating Temperature: -20°C ~ 85°C DC Resistance (DCR): 2.5Ohm Max Q @ Freq: 30 @ 2.52MHz Frequency - Self Resonant: 33MHz Inductance Frequency - Test: 2.52 MHz Height - Seated (Max): 0.094" (2.40mm) Inductance: 12 µH Current Rating (Amps): 125 mA |
товару немає в наявності |