RCA0402140RFKED VISHAY
Виробник: VISHAYCategory: SMD resistors
Description: Resistor: thick film; 0402; 140Ω; 63mW; ±1%; 50V; -55÷155°C
Operating temperature: -55...155°C
Power: 63mW
Tolerance: ±1%
Operating voltage: 50V
Temperature coefficient: 100ppm/°C
Resistance: 140Ω
Case - mm: 1005
Conform to the norm: AEC-Q200
Type of resistor: thick film
Case - inch: 0402
на замовлення 8840 шт:
термін постачання 21-30 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 230+ | 1.86 грн |
| 310+ | 1.31 грн |
| 340+ | 1.16 грн |
| 500+ | 0.90 грн |
| 1000+ | 0.83 грн |
| 5000+ | 0.68 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис RCA0402140RFKED VISHAY
Category: SMD resistors, Description: Resistor: thick film; 0402; 140Ω; 63mW; ±1%; 50V; -55÷155°C, Operating temperature: -55...155°C, Power: 63mW, Tolerance: ±1%, Operating voltage: 50V, Temperature coefficient: 100ppm/°C, Resistance: 140Ω, Case - mm: 1005, Conform to the norm: AEC-Q200, Type of resistor: thick film, Case - inch: 0402, кількість в упаковці: 10 шт.
Інші пропозиції RCA0402140RFKED за ціною від 0.75 грн до 2.24 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
RCA0402140RFKED | Виробник : VISHAY |
Category: SMD resistors Description: Resistor: thick film; 0402; 140Ω; 63mW; ±1%; 50V; -55÷155°C Operating temperature: -55...155°C Power: 63mW Tolerance: ±1% Operating voltage: 50V Temperature coefficient: 100ppm/°C Resistance: 140Ω Case - mm: 1005 Conform to the norm: AEC-Q200 Type of resistor: thick film Case - inch: 0402 кількість в упаковці: 10 шт |
на замовлення 8840 шт: термін постачання 14-21 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
 |
RCA0402140RFKED | Виробник : Vishay |
Res Thick Film 0402 140 Ohm 1% 0.063W(1/16W) ±100ppm/°C Sulfur Resistant Pad SMD T/R Automotive AEC-Q200 |
товару немає в наявності |
|||||||||||||||||
 |
RCA0402140RFKED | Виробник : Vishay / Draloric | Thick Film Resistors - SMD RCA0402 140R 1% 100 ET7 e3 |
товару немає в наявності |