Продукція > TEXAS INSTRUMENTS > SN74ABT8245DWE4 SN74ABT8245DWE4 Texas Instruments Виробник: Texas Instruments Description: IC SCAN TEST DEVICE 24-SOIC на замовлення 6950 шт:термін постачання 21-31 дні (днів) купити В кошику од. на суму грн. Відгуки про товар Написати відгук Технічний опис SN74ABT8245DWE4 Texas Instruments Description: IC SCAN TEST DEVICE 24-SOIC.