SN74ABT8245DWE4 Texas Instruments
Виробник:
Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE 24-SOIC
на замовлення 6950 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74ABT8245DWE4 Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE 24-SOIC.
