SN74ABT8245DWE4

SN74ABT8245DWE4 Texas Instruments


sn74abt8245.pdf Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE 24-SOIC
на замовлення 6950 шт:

термін постачання 21-31 дні (днів)
В кошику  од. на суму  грн.
Відгуки про товар
Написати відгук

Технічний опис SN74ABT8245DWE4 Texas Instruments

Description: IC SCAN TEST DEVICE 24-SOIC.