SN74ABT8543DWE4

SN74ABT8543DWE4 Texas Instruments


sn74abt8543.pdf Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
на замовлення 8020 шт:

термін постачання 21-31 дні (днів)
В кошику  од. на суму  грн.
Відгуки про товар
Написати відгук

Технічний опис SN74ABT8543DWE4 Texas Instruments

Description: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC.