SN74ABT8952DWE4 Texas Instruments
на замовлення 4520 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74ABT8952DWE4 Texas Instruments
Description: IC SCAN TESST DEVICE 28-SOIC.
Інші пропозиції SN74ABT8952DWE4
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна |
|---|---|---|---|---|---|
 |
SN74ABT8952DWE4 | Виробник : Texas Instruments |
 Scan Test Device |
товару немає в наявності |