SN74ABT8952DWE4

SN74ABT8952DWE4 Texas Instruments


sn74abt8952.pdf Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN TESST DEVICE 28-SOIC
на замовлення 4520 шт:

термін постачання 21-31 дні (днів)
Відгуки про товар
Написати відгук

Технічний опис SN74ABT8952DWE4 Texas Instruments

Description: IC SCAN TESST DEVICE 28-SOIC.