Продукція > TEXAS INSTRUMENTS > SN74ABT8952DWG4

SN74ABT8952DWG4

SN74ABT8952DWG4 Texas Instruments

sn74abt8952.pdf

Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

на замовлення 4520 шт:

термін постачання 21-31 дні (днів)

Мінімальне замовлення: 60 шт

В кошику од. на суму грн.

Відгуки про товар

Написати відгук

Технічний опис SN74ABT8952DWG4 Texas Instruments

Description: IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC.