Продукція > TEXAS INSTRUMENTS > SN74ABTH18646APMG4
SN74ABTH18646APMG4

SN74ABTH18646APMG4 Texas Instruments


scbs166d Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
на замовлення 4960 шт:

термін постачання 21-31 дні (днів)
В кошику  од. на суму  грн.
Відгуки про товар
Написати відгук

Технічний опис SN74ABTH18646APMG4 Texas Instruments

Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray.

Інші пропозиції SN74ABTH18646APMG4

Фото Назва Виробник Інформація Доступність
Ціна
SN74ABTH18646APMG4 SN74ABTH18646APMG4 Виробник : Texas Instruments 1771sn54abth18646a.pdf Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray
товару немає в наявності
В кошику  од. на суму  грн.