Продукція > TEXAS INSTRUMENTS > SN74BCT8240ADWE4
SN74BCT8240ADWE4

SN74BCT8240ADWE4 Texas Instruments

sn74bct8240a.pdf
Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
на замовлення 275 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
В кошику  од. на суму  грн.
Відгуки про товар
Написати відгук

Технічний опис SN74BCT8240ADWE4 Texas Instruments

Description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC.