Продукція > TEXAS INSTRUMENTS > SN74BCT8373ANTE4
SN74BCT8373ANTE4

SN74BCT8373ANTE4 Texas Instruments

sn74bct8373a.pdf
Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
на замовлення 780 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Мінімальне замовлення: 60 шт
В кошику  од. на суму  грн.
Відгуки про товар
Написати відгук

Технічний опис SN74BCT8373ANTE4 Texas Instruments

Description: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP.