SN74BCT8373ANTE4

SN74BCT8373ANTE4 Texas Instruments


sn74bct8373a.pdf Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
на замовлення 780 шт:

термін постачання 21-31 дні (днів)
Відгуки про товар
Написати відгук

Технічний опис SN74BCT8373ANTE4 Texas Instruments

Description: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP.