SN74BCT8373ANTE4 Texas Instruments
Виробник:
Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
на замовлення 780 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74BCT8373ANTE4 Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP.
