SNJ54BCT8240AFK Texas Instruments
Виробник: Texas InstrumentsDescription: SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUF
Packaging: Tube
Package / Case: 28-CLCC
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Inverting Buffers
Operating Temperature: -55°C ~ 125°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 28-LCCC (11.43x11.43)
на замовлення 1985 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SNJ54BCT8240AFK Texas Instruments
Description: SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUF, Packaging: Tube, Package / Case: 28-CLCC, Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 8, Logic Type: Scan Test Device with Inverting Buffers, Operating Temperature: -55°C ~ 125°C, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Supplier Device Package: 28-LCCC (11.43x11.43).
Інші пропозиції SNJ54BCT8240AFK
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна |
|---|---|---|---|---|---|
 |
SNJ54BCT8240AFK | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device -55°C to 125°C 28-PinCLLCC Tube |
товару немає в наявності |