04025C222K4T4A KYOCERA AVX
Виробник: KYOCERA AVX
Description: CAP CER 2200PF 50V X7R 0402
Packaging: Cut Tape (CT)
Tolerance: ±10%
Voltage - Rated: 50V
Package / Case: 0402 (1005 Metric)
Temperature Coefficient: X7R
Size / Dimension: 0.040" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)
Mounting Type: Surface Mount, MLCC
Operating Temperature: -55°C ~ 125°C
Applications: Automotive
Ratings: AEC-Q200
Thickness (Max): 0.022" (0.56mm)
Capacitance: 2200 pF
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 19+ | 17.17 грн |
| 32+ | 9.70 грн |
| 50+ | 6.99 грн |
| 100+ | 5.78 грн |
| 500+ | 4.45 грн |
| 1000+ | 4.08 грн |
| 2500+ | 3.59 грн |
| 5000+ | 3.34 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис 04025C222K4T4A KYOCERA AVX
Description: CAP CER 2200PF 50V X7R 0402, Packaging: Tape & Reel (TR), Tolerance: ±10%, Voltage - Rated: 50V, Package / Case: 0402 (1005 Metric), Temperature Coefficient: X7R, Size / Dimension: 0.040" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm), Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Operating Temperature: -55°C ~ 125°C, Applications: Automotive, Ratings: AEC-Q200, Thickness (Max): 0.022" (0.56mm), Capacitance: 2200 pF.
Інші пропозиції 04025C222K4T4A за ціною від 3.26 грн до 17.40 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 |
04025C222K4T4A | Виробник : Kyocera AVX |
Multilayer Ceramic Capacitors MLCC - SMD/SMT KAM05AR71H222KN NW G LOB PN 50V 2200pF X7 A 581-KAM05AR71H222KN |
на замовлення 35862 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
|
|
04025C222K4T4A | Виробник : KYOCERA AVX |
Description: CAP CER 2200PF 50V X7R 0402 Packaging: Tape & Reel (TR) Tolerance: ±10% Voltage - Rated: 50V Package / Case: 0402 (1005 Metric) Temperature Coefficient: X7R Size / Dimension: 0.040" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Applications: Automotive Ratings: AEC-Q200 Thickness (Max): 0.022" (0.56mm) Capacitance: 2200 pF |
товару немає в наявності |