
0402N151F500CT Walsin Technology
на замовлення 10000 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Кількість | Ціна |
---|---|
10000+ | 0.45 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис 0402N151F500CT Walsin Technology
Description: CAP CER 150PF 50V C0G/NP0 0402, Tolerance: ±1%, Packaging: Tape & Reel (TR), Voltage - Rated: 50V, Package / Case: 0402 (1005 Metric), Temperature Coefficient: C0G, NP0, Size / Dimension: 0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm), Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Operating Temperature: -55°C ~ 125°C, Applications: General Purpose, Thickness (Max): 0.022" (0.55mm), Capacitance: 150 pF.
Інші пропозиції 0402N151F500CT за ціною від 0.60 грн до 9.27 грн
Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
0402N151F500CT | Виробник : Walsin Technology Corporation |
![]() Tolerance: ±1% Packaging: Tape & Reel (TR) Voltage - Rated: 50V Package / Case: 0402 (1005 Metric) Temperature Coefficient: C0G, NP0 Size / Dimension: 0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Applications: General Purpose Thickness (Max): 0.022" (0.55mm) Capacitance: 150 pF |
на замовлення 120000 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
![]() |
0402N151F500CT | Виробник : Walsin Technology Corporation |
![]() Tolerance: ±1% Packaging: Cut Tape (CT) Voltage - Rated: 50V Package / Case: 0402 (1005 Metric) Temperature Coefficient: C0G, NP0 Size / Dimension: 0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Applications: General Purpose Thickness (Max): 0.022" (0.55mm) Capacitance: 150 pF |
на замовлення 124072 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
![]() |
0402N151F500CT | Виробник : Walsin |
![]() |
на замовлення 20436 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
0402N151F500CT | Виробник : WALSIN |
![]() |
товару немає в наявності |