
100B331JW200XT KYOCERA AVX

Description: CAP CER 330PF 200V P90 1111
Packaging: Tape & Reel (TR)
Tolerance: ±5%
Features: High Q, Low Loss, Low ESL
Voltage - Rated: 200V
Package / Case: 1111 (2828 Metric)
Temperature Coefficient: P90
Size / Dimension: 0.110" L x 0.110" W (2.79mm x 2.79mm)
Mounting Type: Surface Mount, MLCC
Operating Temperature: -55°C ~ 125°C
Applications: RF, Microwave, High Frequency, Bypass, Decoupling
Thickness (Max): 0.102" (2.59mm)
Part Status: Active
Capacitance: 330 pF
на замовлення 1000 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Кількість | Ціна |
---|---|
500+ | 332.60 грн |
1000+ | 306.62 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис 100B331JW200XT KYOCERA AVX
Description: CAP CER 330PF 200V P90 1111, Packaging: Tape & Reel (TR), Tolerance: ±5%, Features: High Q, Low Loss, Low ESL, Voltage - Rated: 200V, Package / Case: 1111 (2828 Metric), Temperature Coefficient: P90, Size / Dimension: 0.110" L x 0.110" W (2.79mm x 2.79mm), Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Operating Temperature: -55°C ~ 125°C, Applications: RF, Microwave, High Frequency, Bypass, Decoupling, Thickness (Max): 0.102" (2.59mm), Part Status: Active, Capacitance: 330 pF.
Інші пропозиції 100B331JW200XT за ціною від 341.56 грн до 698.72 грн
Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
100B331JW200XT | Виробник : KYOCERA AVX |
![]() Packaging: Cut Tape (CT) Tolerance: ±5% Features: High Q, Low Loss, Low ESL Voltage - Rated: 200V Package / Case: 1111 (2828 Metric) Temperature Coefficient: P90 Size / Dimension: 0.110" L x 0.110" W (2.79mm x 2.79mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Applications: RF, Microwave, High Frequency, Bypass, Decoupling Thickness (Max): 0.102" (2.59mm) Part Status: Active Capacitance: 330 pF |
на замовлення 1895 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||
![]() |
100B331JW200XT | Виробник : American Technical Ceramics (ATC) |
![]() |
товару немає в наявності |