-3,20mm-Tan.jpg "1812J6300103JGT")
1812J6300103JGT Knowles Syfer
Виробник: Knowles SyferDescription: CAP CER 10000PF 630V C0GNP0 1812
Packaging: Cut Tape (CT)
Tolerance: ±5%
Voltage - Rated: 630V
Package / Case: 1812 (4532 Metric)
Temperature Coefficient: C0G, NP0 (1B)
Size / Dimension: 0.177" L x 0.126" W (4.50mm x 3.20mm)
Mounting Type: Surface Mount, MLCC
Operating Temperature: -55°C ~ 125°C
Applications: General Purpose
Thickness (Max): 0.098" (2.50mm)
Part Status: Active
Capacitance: 10000 pF
на замовлення 58 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 3+ | 133.52 грн |
| 10+ | 101.65 грн |
| 50+ | 88.13 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис 1812J6300103JGT Knowles Syfer
Description: CAP CER 10000PF 630V C0GNP0 1812, Packaging: Tape & Reel (TR), Tolerance: ±5%, Voltage - Rated: 630V, Package / Case: 1812 (4532 Metric), Temperature Coefficient: C0G, NP0 (1B), Size / Dimension: 0.177" L x 0.126" W (4.50mm x 3.20mm), Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Operating Temperature: -55°C ~ 125°C, Applications: General Purpose, Thickness (Max): 0.098" (2.50mm), Part Status: Active, Capacitance: 10000 pF.
Інші пропозиції 1812J6300103JGT за ціною від 70.10 грн до 143.10 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 |
1812J6300103JGT | Виробник : Knowles Syfer |
Multilayer Ceramic Capacitors MLCC - SMD/SMT 630V 10nF 1812 C0G 5% Tol |
на замовлення 309 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
||||||||||
|
|
1812J6300103JGT | Виробник : Knowles Syfer |
Description: CAP CER 10000PF 630V C0GNP0 1812 Packaging: Tape & Reel (TR) Tolerance: ±5% Voltage - Rated: 630V Package / Case: 1812 (4532 Metric) Temperature Coefficient: C0G, NP0 (1B) Size / Dimension: 0.177" L x 0.126" W (4.50mm x 3.20mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Applications: General Purpose Thickness (Max): 0.098" (2.50mm) Part Status: Active Capacitance: 10000 pF |
товару немає в наявності |