
185224J63RCB-F Cornell Dubilier

Cap Film 0.22uF 63V PET 5% (7.2 X 3.5 X 7.5mm) Radial Wound 5mm 125°C T/R
на замовлення 5400 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Кількість | Ціна |
---|---|
1800+ | 66.53 грн |
3600+ | 63.56 грн |
5400+ | 55.19 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис 185224J63RCB-F Cornell Dubilier
Description: CAP FILM 0.22UF 5% 63VDC RADIAL, Tolerance: ±5%, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: Radial, Mounting Type: Through Hole, Operating Temperature: -55°C ~ 125°C, Applications: General Purpose, Lead Spacing: 0.197" (5.00mm), Termination: PC Pins, Dielectric Material: Polyester, Metallized, Voltage Rating - AC: 40V, Voltage Rating - DC: 63V, Height - Seated (Max): 0.295" (7.50mm), Part Status: Active, Capacitance: 0.22 µF, Size / Dimension: 0.283" L x 0.138" W (7.20mm x 3.50mm).
Інші пропозиції 185224J63RCB-F за ціною від 58.37 грн до 71.65 грн
Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
185224J63RCB-F | Виробник : Cornell Dubilier |
![]() |
на замовлення 5400 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||
185224J63RCB-F | Виробник : Cornell Dubilier Electronics |
![]() |
на замовлення 5400 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
|||||||||
![]() |
185224J63RCB-F | Виробник : Cornell Dubilier |
![]() |
товару немає в наявності |
|||||||||
![]() |
185224J63RCB-F | Виробник : Cornell Dubilier Electronics (CDE) |
![]() Tolerance: ±5% Packaging: Tape & Reel (TR) Package / Case: Radial Mounting Type: Through Hole Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Applications: General Purpose Lead Spacing: 0.197" (5.00mm) Termination: PC Pins Dielectric Material: Polyester, Metallized Voltage Rating - AC: 40V Voltage Rating - DC: 63V Height - Seated (Max): 0.295" (7.50mm) Part Status: Active Capacitance: 0.22 µF Size / Dimension: 0.283" L x 0.138" W (7.20mm x 3.50mm) |
товару немає в наявності |
|||||||||
![]() |
185224J63RCB-F | Виробник : Cornell Dubilier - CDE |
![]() |
товару немає в наявності |