
1N4446 Fairchild Semiconductor

Description: DIODE STD 100V 200MA DO204AH
Packaging: Bulk
Package / Case: DO-204AH, DO-35, Axial
Mounting Type: Through Hole
Speed: Small Signal =< 200mA (Io), Any Speed
Reverse Recovery Time (trr): 4 ns
Technology: Standard
Capacitance @ Vr, F: 4pF @ 0V, 1MHz
Current - Average Rectified (Io): 200mA
Supplier Device Package: DO-204AH (DO-35)
Operating Temperature - Junction: 175°C (Max)
Voltage - DC Reverse (Vr) (Max): 100 V
Voltage - Forward (Vf) (Max) @ If: 1 V @ 20 mA
Current - Reverse Leakage @ Vr: 25 nA @ 20 V
на замовлення 83372 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Кількість | Ціна |
---|---|
5323+ | 4.55 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис 1N4446 Fairchild Semiconductor
Description: DIODE STD 100V 200MA DO204AH, Packaging: Bulk, Package / Case: DO-204AH, DO-35, Axial, Mounting Type: Through Hole, Speed: Small Signal =< 200mA (Io), Any Speed, Reverse Recovery Time (trr): 4 ns, Technology: Standard, Capacitance @ Vr, F: 4pF @ 0V, 1MHz, Current - Average Rectified (Io): 200mA, Supplier Device Package: DO-204AH (DO-35), Operating Temperature - Junction: 175°C (Max), Voltage - DC Reverse (Vr) (Max): 100 V, Voltage - Forward (Vf) (Max) @ If: 1 V @ 20 mA, Current - Reverse Leakage @ Vr: 25 nA @ 20 V.
Інші пропозиції 1N4446 за ціною від 128.60 грн до 140.76 грн
Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
1N4446 | Виробник : Microchip Technology |
![]() |
на замовлення 92 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
||||||
![]() |
1N4446 | Виробник : Microchip Technology |
![]() |
на замовлення 2 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|||||||
![]() |
1N4446 | Виробник : Microchip Technology |
![]() |
товару немає в наявності |
|||||||
![]() |
1N4446 | Виробник : Microchip Technology |
![]() |
товару немає в наявності |
|||||||
![]() |
1N4446 | Виробник : Microchip Technology |
![]() |
товару немає в наявності |
|||||||
1N4446 | Виробник : onsemi / Fairchild |
![]() |
товару немає в наявності |