
на замовлення 3260 шт:
термін постачання 21-30 дні (днів)
Кількість | Ціна |
---|---|
8+ | 44.72 грн |
11+ | 32.49 грн |
100+ | 11.92 грн |
1000+ | 6.69 грн |
2000+ | 6.55 грн |
10000+ | 6.25 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис 4609X-101-184LF Bourns
Description: RES ARRAY 8 RES 180K OHM 9SIP, Packaging: Bulk, Resistance (Ohms): 180k, Tolerance: ±2%, Power Per Element: 200mW, Circuit Type: Bussed, Number of Pins: 9, Package / Case: 9-SIP, Temperature Coefficient: ±100ppm/°C, Size / Dimension: 0.898" L x 0.098" W (22.81mm x 2.49mm), Mounting Type: Through Hole, Operating Temperature: -55°C ~ 125°C, Supplier Device Package: 9-SIP, Height - Seated (Max): 0.200" (5.08mm), Number of Resistors: 8.
Інші пропозиції 4609X-101-184LF за ціною від 7.30 грн до 45.36 грн
Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
4609X-101-184LF | Виробник : BOURNS |
![]() Bauform/Gehäuse des Widerstands: SIP Qualifikation: - Netzwerkelement: Bussed Widerstand: 180 Widerstandstoleranz: ± 2% Widerstandsanschlüsse: PC Pin Temperaturkoeffizient: ± 100ppm/°C Anzahl der Widerstände: 8 Nennleistung pro Widerstand: 200 Produktpalette: 4600X Series SVHC: No SVHC (10-Jun-2022) |
на замовлення 1970 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||
![]() |
4609X-101-184LF | Виробник : Bourns Inc. |
![]() Packaging: Bulk Resistance (Ohms): 180k Tolerance: ±2% Power Per Element: 200mW Circuit Type: Bussed Number of Pins: 9 Package / Case: 9-SIP Temperature Coefficient: ±100ppm/°C Size / Dimension: 0.898" L x 0.098" W (22.81mm x 2.49mm) Mounting Type: Through Hole Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Supplier Device Package: 9-SIP Height - Seated (Max): 0.200" (5.08mm) Number of Resistors: 8 |
на замовлення 1975 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||
![]() |
4609X-101-184LF | Виробник : Bourns |
![]() |
товару немає в наявності |
|||||||||||||
4609X-101-184LF | Виробник : BOURNS |
![]() |
товару немає в наявності |