600F220FT250XT4K KYOCERA AVX
Виробник: KYOCERA AVXDescription: CAP CER 22PF 250V C0G/NP0 0805
Tolerance: ±1%
Features: High Q, Low Loss, Ultra Low ESR
Packaging: Cut Tape (CT)
Voltage - Rated: 250V
Package / Case: 0805 (2012 Metric)
Temperature Coefficient: C0G, NP0
Size / Dimension: 0.079" L x 0.049" W (2.01mm x 1.24mm)
Mounting Type: Surface Mount, MLCC
Operating Temperature: -55°C ~ 125°C
Applications: RF, Microwave, High Frequency, Bypass, Decoupling
Thickness (Max): 0.051" (1.30mm)
Capacitance: 22 pF
на замовлення 724 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 2+ | 169.04 грн |
| 10+ | 111.58 грн |
| 50+ | 91.17 грн |
| 100+ | 79.63 грн |
| 500+ | 69.62 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис 600F220FT250XT4K KYOCERA AVX
Description: CAP CER 22PF 250V C0G/NP0 0805, Tolerance: ±1%, Features: High Q, Low Loss, Ultra Low ESR, Packaging: Tape & Reel (TR), Voltage - Rated: 250V, Package / Case: 0805 (2012 Metric), Temperature Coefficient: C0G, NP0, Size / Dimension: 0.079" L x 0.049" W (2.01mm x 1.24mm), Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Operating Temperature: -55°C ~ 125°C, Applications: RF, Microwave, High Frequency, Bypass, Decoupling, Thickness (Max): 0.051" (1.30mm), Capacitance: 22 pF.
Інші пропозиції 600F220FT250XT4K
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна |
|---|---|---|---|---|---|
|
600F220FT250XT4K | Виробник : KYOCERA AVX |
Description: CAP CER 22PF 250V C0G/NP0 0805Tolerance: ±1% Features: High Q, Low Loss, Ultra Low ESR Packaging: Tape & Reel (TR) Voltage - Rated: 250V Package / Case: 0805 (2012 Metric) Temperature Coefficient: C0G, NP0 Size / Dimension: 0.079" L x 0.049" W (2.01mm x 1.24mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Applications: RF, Microwave, High Frequency, Bypass, Decoupling Thickness (Max): 0.051" (1.30mm) Capacitance: 22 pF |
товару немає в наявності |
|
| 600F220FT250XT4K | Виробник : ATC / Kyocera AVX |
Silicon RF Capacitors / Thin Film 250V 22pF Tol 1% Las Mkg |
товару немає в наявності |