
ADS8578SIPM Texas Instruments

Analog to Digital Converters - ADC 14-Bit High-Speed 8-Channel Simultaneous-Sampling ADC With Bipolar Inputs on a Single Supply 64-LQFP -40 to 125
на замовлення 22 шт:
термін постачання 21-30 дні (днів)
Кількість | Ціна |
---|---|
1+ | 1327.15 грн |
10+ | 1240.67 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис ADS8578SIPM Texas Instruments
Description: IC ADC 14BIT SAR 64LQFP, Features: Simultaneous Sampling, Packaging: Tray, Package / Case: 64-LQFP, Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 14, Configuration: PGA-ADC, Data Interface: Parallel, Serial, Reference Type: External, Internal, Operating Temperature: -40°C ~ 125°C, Voltage - Supply, Analog: 4.75V ~ 5.25V, Voltage - Supply, Digital: 2.3V ~ 5.25V, Sampling Rate (Per Second): 200k, Input Type: Single Ended, Number of Inputs: 8, Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10), Architecture: SAR, Ratio - S/H:ADC: 0:1, Number of A/D Converters: 8.
Інші пропозиції ADS8578SIPM за ціною від 1108.20 грн до 1336.91 грн
Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
ADS8578SIPM | Виробник : Texas Instruments |
![]() Features: Simultaneous Sampling Packaging: Tray Package / Case: 64-LQFP Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 14 Configuration: PGA-ADC Data Interface: Parallel, Serial Reference Type: External, Internal Operating Temperature: -40°C ~ 125°C Voltage - Supply, Analog: 4.75V ~ 5.25V Voltage - Supply, Digital: 2.3V ~ 5.25V Sampling Rate (Per Second): 200k Input Type: Single Ended Number of Inputs: 8 Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10) Architecture: SAR Ratio - S/H:ADC: 0:1 Number of A/D Converters: 8 |
на замовлення 157 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||
![]() |
ADS8578SIPM | Виробник : Texas Instruments |
![]() |
товару немає в наявності |
|||||||
![]() |
ADS8578SIPM | Виробник : Texas Instruments |
![]() |
товару немає в наявності |
|||||||
![]() |
ADS8578SIPM | Виробник : Texas Instruments |
![]() |
товару немає в наявності |