B32652A4474K000 EPCOS - TDK Electronics
Виробник: EPCOS - TDK ElectronicsDescription: CAP FILM 0.47UF 10% 400VDC RAD
Packaging: Bulk
Tolerance: ±10%
Package / Case: Radial
Mounting Type: Through Hole
Operating Temperature: -55°C ~ 100°C
Applications: Automotive; DC Link, DC Filtering; High Pulse, DV/DT; Snubber
Lead Spacing: 0.591" (15.00mm)
Termination: PC Pins
Ratings: AEC-Q200
Dielectric Material: Polypropylene (PP), Metallized
Voltage Rating - AC: 200V
Voltage Rating - DC: 400V
Height - Seated (Max): 0.689" (17.50mm)
Part Status: Active
Capacitance: 0.47 µF
Size / Dimension: 0.709" L x 0.354" W (18.00mm x 9.00mm)
на замовлення 1990 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 5+ | 72.21 грн |
| 10+ | 50.19 грн |
| 50+ | 43.93 грн |
| 100+ | 33.59 грн |
| 500+ | 27.48 грн |
| 1000+ | 23.66 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис B32652A4474K000 EPCOS - TDK Electronics
Description: CAP FILM 0.47UF 10% 400VDC RAD, Packaging: Bulk, Tolerance: ±10%, Package / Case: Radial, Mounting Type: Through Hole, Operating Temperature: -55°C ~ 100°C, Applications: Automotive; DC Link, DC Filtering; High Pulse, DV/DT; Snubber, Lead Spacing: 0.591" (15.00mm), Termination: PC Pins, Ratings: AEC-Q200, Dielectric Material: Polypropylene (PP), Metallized, Voltage Rating - AC: 200V, Voltage Rating - DC: 400V, Height - Seated (Max): 0.689" (17.50mm), Part Status: Active, Capacitance: 0.47 µF, Size / Dimension: 0.709" L x 0.354" W (18.00mm x 9.00mm).
Інші пропозиції B32652A4474K000 за ціною від 21.94 грн до 78.51 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 |
B32652A4474K000 | Виробник : EPCOS / TDK |
Film Capacitors 0.47uF 400volts 10% |
на замовлення 292 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
 |
B32652A4474K000 | Виробник : TDK ELECTRONICS |
Cap Film 0.47uF 400V PP 10% (18 X 9 X 17.5mm) Radial Wound 15mm 110C Automotive Bulk |
товару немає в наявності |