
BAS4002LE6327 Infineon Technologies

Description: DIODE SCHOTT 40V 120MA TSLP-2-1
Packaging: Bulk
Package / Case: SOD-882
Mounting Type: Surface Mount
Speed: Small Signal =< 200mA (Io), Any Speed
Technology: Schottky
Capacitance @ Vr, F: 3pF @ 0V, 1MHz
Current - Average Rectified (Io): 120mA
Supplier Device Package: PG-TSLP-2-1
Operating Temperature - Junction: 150°C
Voltage - DC Reverse (Vr) (Max): 40 V
Voltage - Forward (Vf) (Max) @ If: 1 V @ 40 mA
Current - Reverse Leakage @ Vr: 1 µA @ 30 V
на замовлення 15000 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Кількість | Ціна |
---|---|
3370+ | 6.58 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис BAS4002LE6327 Infineon Technologies
Description: DIODE SCHOTT 40V 120MA TSLP-2-1, Packaging: Bulk, Package / Case: SOD-882, Mounting Type: Surface Mount, Speed: Small Signal =< 200mA (Io), Any Speed, Technology: Schottky, Capacitance @ Vr, F: 3pF @ 0V, 1MHz, Current - Average Rectified (Io): 120mA, Supplier Device Package: PG-TSLP-2-1, Operating Temperature - Junction: 150°C, Voltage - DC Reverse (Vr) (Max): 40 V, Voltage - Forward (Vf) (Max) @ If: 1 V @ 40 mA, Current - Reverse Leakage @ Vr: 1 µA @ 30 V.
Інші пропозиції BAS4002LE6327 за ціною від 5.72 грн до 28.68 грн
Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
BAS 40-02L E6327 | Виробник : Infineon Technologies |
![]() |
на замовлення 4436 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
![]() |
BAS40-02LE6327 | Виробник : Infineon Technologies |
![]() Packaging: Bulk Package / Case: SOD-882 Mounting Type: Surface Mount Speed: Small Signal =< 200mA (Io), Any Speed Technology: Schottky Capacitance @ Vr, F: 3pF @ 0V, 1MHz Current - Average Rectified (Io): 120mA Supplier Device Package: PG-TSLP-2-1 Operating Temperature - Junction: 150°C Voltage - DC Reverse (Vr) (Max): 40 V Voltage - Forward (Vf) (Max) @ If: 1 V @ 40 mA Current - Reverse Leakage @ Vr: 1 µA @ 30 V |
товару немає в наявності |