
BZX384C43-E3-08 Vishay General Semiconductor - Diodes Division

Description: DIODE ZENER 43V 200MW SOD323
Tolerance: ±5%
Packaging: Tape & Reel (TR)
Package / Case: SC-76, SOD-323
Mounting Type: Surface Mount
Operating Temperature: -55°C ~ 150°C
Voltage - Zener (Nom) (Vz): 43 V
Impedance (Max) (Zzt): 150 Ohms
Supplier Device Package: SOD-323
Power - Max: 200 mW
Current - Reverse Leakage @ Vr: 50 nA @ 30.1 V
на замовлення 12000 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Кількість | Ціна |
---|---|
3000+ | 3.10 грн |
6000+ | 2.66 грн |
9000+ | 2.50 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис BZX384C43-E3-08 Vishay General Semiconductor - Diodes Division
Description: DIODE ZENER 43V 200MW SOD323, Tolerance: ±5%, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: SC-76, SOD-323, Mounting Type: Surface Mount, Operating Temperature: -55°C ~ 150°C, Voltage - Zener (Nom) (Vz): 43 V, Impedance (Max) (Zzt): 150 Ohms, Supplier Device Package: SOD-323, Power - Max: 200 mW, Current - Reverse Leakage @ Vr: 50 nA @ 30.1 V.
Інші пропозиції BZX384C43-E3-08 за ціною від 2.05 грн до 19.09 грн
Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
BZX384C43-E3-08 | Виробник : Vishay General Semiconductor - Diodes Division |
![]() Tolerance: ±5% Packaging: Cut Tape (CT) Package / Case: SC-76, SOD-323 Mounting Type: Surface Mount Operating Temperature: -55°C ~ 150°C Voltage - Zener (Nom) (Vz): 43 V Impedance (Max) (Zzt): 150 Ohms Supplier Device Package: SOD-323 Power - Max: 200 mW Current - Reverse Leakage @ Vr: 50 nA @ 30.1 V |
на замовлення 12515 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
|
BZX384C43-E3-08 | Виробник : Vishay Semiconductors |
![]() |
на замовлення 11375 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
![]() |
BZX384C43-E3-08 | Виробник : Vishay |
![]() |
товару немає в наявності |
|||||||||||||||||
![]() |
BZX384C43-E3-08 | Виробник : Vishay |
![]() |
товару немає в наявності |