C1005JB1C474K050BC TDK Corporation
Виробник: TDK CorporationDescription: CAP CER 0.47UF 16V JB 0402
Tolerance: ±10%
Features: Low ESL
Packaging: Cut Tape (CT)
Voltage - Rated: 16V
Package / Case: 0402 (1005 Metric)
Temperature Coefficient: JB
Size / Dimension: 0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)
Mounting Type: Surface Mount, MLCC
Operating Temperature: -25°C ~ 85°C
Applications: General Purpose
Thickness (Max): 0.022" (0.55mm)
Part Status: Last Time Buy
Capacitance: 0.47 µF
на замовлення 11695 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 45+ | 7.43 грн |
| 79+ | 4.06 грн |
| 116+ | 2.75 грн |
| 134+ | 2.23 грн |
| 500+ | 1.64 грн |
| 1000+ | 1.46 грн |
| 2500+ | 1.25 грн |
| 5000+ | 1.14 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис C1005JB1C474K050BC TDK Corporation
Description: CAP CER 0.47UF 16V JB 0402, Packaging: Tape & Reel (TR), Tolerance: ±10%, Features: Low ESL, Voltage - Rated: 16V, Package / Case: 0402 (1005 Metric), Temperature Coefficient: JB, Size / Dimension: 0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm), Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Operating Temperature: -25°C ~ 85°C, Applications: General Purpose, Thickness (Max): 0.022" (0.55mm), Part Status: Last Time Buy, Capacitance: 0.47 µF.
Інші пропозиції C1005JB1C474K050BC
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна |
|---|---|---|---|---|---|
|
C1005JB1C474K050BC | Виробник : TDK |
Multilayer Ceramic Capacitors MLCC - SMD/SMT 0402 0.47uF 16volts JB 10% |
на замовлення 17316 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
|
C1005JB1C474K050BC | Виробник : TDK Corporation |
Description: CAP CER 0.47UF 16V JB 0402Packaging: Tape & Reel (TR) Tolerance: ±10% Features: Low ESL Voltage - Rated: 16V Package / Case: 0402 (1005 Metric) Temperature Coefficient: JB Size / Dimension: 0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -25°C ~ 85°C Applications: General Purpose Thickness (Max): 0.022" (0.55mm) Part Status: Last Time Buy Capacitance: 0.47 µF |
товару немає в наявності |
