на замовлення 12000 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 6173+ | 2.08 грн |
| 8000+ | 1.93 грн |
| 12000+ | 1.91 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис C1206C562K5RAC7800 Kemet
Description: CAP CER 5600PF 50V X7R 1206, Tolerance: ±10%, Packaging: Tape & Reel (TR), Voltage - Rated: 50V, Package / Case: 1206 (3216 Metric), Temperature Coefficient: X7R, Size / Dimension: 0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm), Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Operating Temperature: -55°C ~ 125°C, Applications: Bypass, Decoupling, Thickness (Max): 0.035" (0.88mm), Part Status: Active, Capacitance: 5600 pF.
Інші пропозиції C1206C562K5RAC7800 за ціною від 2.12 грн до 23.10 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
C1206C562K5RAC7800 | Виробник : Kemet |
 Cap Ceramic 0.0056uF 50V X7R 10% Pad SMD 1206 125°C T/R |
на замовлення 12000 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||
 |
C1206C562K5RAC7800 | Виробник : KEMET |
Description: CAP CER 5600PF 50V X7R 1206 Tolerance: ±10% Packaging: Cut Tape (CT) Voltage - Rated: 50V Package / Case: 1206 (3216 Metric) Temperature Coefficient: X7R Size / Dimension: 0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Applications: Bypass, Decoupling Thickness (Max): 0.035" (0.88mm) Part Status: Active Capacitance: 5600 pF |
на замовлення 3308 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||
|
|
C1206C562K5RAC7800 | Виробник : KEMET |
Description: CAP CER 5600PF 50V X7R 1206 Tolerance: ±10% Packaging: Tape & Reel (TR) Voltage - Rated: 50V Package / Case: 1206 (3216 Metric) Temperature Coefficient: X7R Size / Dimension: 0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Applications: Bypass, Decoupling Thickness (Max): 0.035" (0.88mm) Part Status: Active Capacitance: 5600 pF |
товару немає в наявності |