C2012X5R1V106K085AC TDK
на замовлення 243752 шт:
термін постачання 21-30 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 11+ | 34.89 грн |
| 24+ | 15.37 грн |
| 100+ | 11.98 грн |
| 500+ | 9.66 грн |
| 1000+ | 8.89 грн |
| 4000+ | 7.03 грн |
| 8000+ | 6.88 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис C2012X5R1V106K085AC TDK
Description: CAP CER 10UF 35V X5R 0805, Tolerance: ±10%, Features: Low ESL, Packaging: Tape & Reel (TR), Voltage - Rated: 35V, Package / Case: 0805 (2012 Metric), Temperature Coefficient: X5R, Size / Dimension: 0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm), Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Operating Temperature: -55°C ~ 85°C, Applications: General Purpose, Thickness (Max): 0.039" (1.00mm), Part Status: Not For New Designs, Capacitance: 10 µF.
Інші пропозиції C2012X5R1V106K085AC
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна |
|---|---|---|---|---|---|
|
|
C2012X5R1V106K085AC | Виробник : TDK - Teridian |
Cap Ceramic 10uF 35V X5R 10% Pad SMD 0805 85C Low ESR T/R |
товару немає в наявності |
|
|
C2012X5R1V106K085AC | Виробник : TDK Corporation |
Description: CAP CER 10UF 35V X5R 0805Tolerance: ±10% Features: Low ESL Packaging: Tape & Reel (TR) Voltage - Rated: 35V Package / Case: 0805 (2012 Metric) Temperature Coefficient: X5R Size / Dimension: 0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 85°C Applications: General Purpose Thickness (Max): 0.039" (1.00mm) Part Status: Not For New Designs Capacitance: 10 µF |
товару немає в наявності |
|
|
C2012X5R1V106K085AC | Виробник : TDK Corporation |
Description: CAP CER 10UF 35V X5R 0805Packaging: Cut Tape (CT) Tolerance: ±10% Features: Low ESL Voltage - Rated: 35V Package / Case: 0805 (2012 Metric) Temperature Coefficient: X5R Size / Dimension: 0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 85°C Applications: General Purpose Thickness (Max): 0.039" (1.00mm) Part Status: Not For New Designs Capacitance: 10 µF |
товару немає в наявності |

