
C3216X5R1V475K160AB TDK Corporation

Description: CAP CER 4.7UF 35V X5R 1206
Tolerance: ±10%
Features: Low ESL
Packaging: Tape & Reel (TR)
Voltage - Rated: 35V
Package / Case: 1206 (3216 Metric)
Temperature Coefficient: X5R
Size / Dimension: 0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm)
Mounting Type: Surface Mount, MLCC
Operating Temperature: -55°C ~ 85°C
Applications: General Purpose
Thickness (Max): 0.071" (1.80mm)
Part Status: Not For New Designs
Capacitance: 4.7 µF
на замовлення 2000 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Кількість | Ціна |
---|---|
2000+ | 18.13 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис C3216X5R1V475K160AB TDK Corporation
Description: CAP CER 4.7UF 35V X5R 1206, Tolerance: ±10%, Features: Low ESL, Packaging: Tape & Reel (TR), Voltage - Rated: 35V, Package / Case: 1206 (3216 Metric), Temperature Coefficient: X5R, Size / Dimension: 0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm), Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Operating Temperature: -55°C ~ 85°C, Applications: General Purpose, Thickness (Max): 0.071" (1.80mm), Part Status: Not For New Designs, Capacitance: 4.7 µF.
Інші пропозиції C3216X5R1V475K160AB за ціною від 17.58 грн до 52.78 грн
Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
C3216X5R1V475K160AB | Виробник : TDK Corporation |
![]() Tolerance: ±10% Features: Low ESL Packaging: Cut Tape (CT) Voltage - Rated: 35V Package / Case: 1206 (3216 Metric) Temperature Coefficient: X5R Size / Dimension: 0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 85°C Applications: General Purpose Thickness (Max): 0.071" (1.80mm) Part Status: Not For New Designs Capacitance: 4.7 µF |
на замовлення 2552 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||
![]() |
C3216X5R1V475K160AB | Виробник : TDK |
![]() |
на замовлення 1900 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|||||||||||
![]() |
C3216X5R1V475K160AB | Виробник : TDK - Teridian |
![]() |
товару немає в наявності |