
CKP2520M2R2M-T Taiyo Yuden
на замовлення 862 шт:
термін постачання 21-30 дні (днів)
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис CKP2520M2R2M-T Taiyo Yuden
Description: FIXED IND 2.2UH 1.2A 100MOHM SMD, Tolerance: ±20%, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: 1008 (2520 Metric), Size / Dimension: 0.098" L x 0.079" W (2.50mm x 2.00mm), Mounting Type: Surface Mount, Shielding: Unshielded, Type: Multilayer, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, DC Resistance (DCR): 100mOhm Max, Material - Core: Ferrite, Inductance Frequency - Test: 1 MHz, Supplier Device Package: 1008 (2520 Metric), Height - Seated (Max): 0.031" (0.80mm), Part Status: Obsolete, Inductance: 2.2 µH, Current Rating (Amps): 1.2 A.
Інші пропозиції CKP2520M2R2M-T
Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна |
---|---|---|---|---|---|
CKP2520M2R2M-T | Виробник : TAIYO |
![]() |
на замовлення 86200 шт: термін постачання 14-28 дні (днів) |
||
|
CKP2520M2R2M-T | Виробник : Taiyo Yuden |
![]() Tolerance: ±20% Packaging: Tape & Reel (TR) Package / Case: 1008 (2520 Metric) Size / Dimension: 0.098" L x 0.079" W (2.50mm x 2.00mm) Mounting Type: Surface Mount Shielding: Unshielded Type: Multilayer Operating Temperature: -40°C ~ 85°C DC Resistance (DCR): 100mOhm Max Material - Core: Ferrite Inductance Frequency - Test: 1 MHz Supplier Device Package: 1008 (2520 Metric) Height - Seated (Max): 0.031" (0.80mm) Part Status: Obsolete Inductance: 2.2 µH Current Rating (Amps): 1.2 A |
товару немає в наявності |
|
|
CKP2520M2R2M-T | Виробник : Taiyo Yuden |
![]() Packaging: Cut Tape (CT) Tolerance: ±20% Package / Case: 1008 (2520 Metric) Size / Dimension: 0.098" L x 0.079" W (2.50mm x 2.00mm) Mounting Type: Surface Mount Shielding: Unshielded Type: Multilayer Operating Temperature: -40°C ~ 85°C DC Resistance (DCR): 100mOhm Max Material - Core: Ferrite Inductance Frequency - Test: 1 MHz Supplier Device Package: 1008 (2520 Metric) Height - Seated (Max): 0.031" (0.80mm) Part Status: Obsolete Inductance: 2.2 µH Current Rating (Amps): 1.2 A |
товару немає в наявності |