CL05A435MR5NWNC Samsung Electro-Mechanics
Виробник: Samsung Electro-MechanicsDescription: CAP CER 4.3UF 4V X5R 0402
Packaging: Tape & Reel (TR)
Tolerance: ±20%
Features: Low ESL
Voltage - Rated: 4V
Package / Case: 0402 (1005 Metric)
Temperature Coefficient: X5R
Size / Dimension: 0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)
Mounting Type: Surface Mount, MLCC
Operating Temperature: -55°C ~ 85°C
Applications: General Purpose
Thickness (Max): 0.022" (0.55mm)
Capacitance: 4.3 µF
на замовлення 80000 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 10000+ | 1.54 грн |
| 20000+ | 1.40 грн |
| 30000+ | 1.31 грн |
| 50000+ | 1.15 грн |
| 70000+ | 1.11 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис CL05A435MR5NWNC Samsung Electro-Mechanics
Description: CAP CER 4.3UF 4V X5R 0402, Packaging: Tape & Reel (TR), Tolerance: ±20%, Features: Low ESL, Voltage - Rated: 4V, Package / Case: 0402 (1005 Metric), Temperature Coefficient: X5R, Size / Dimension: 0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm), Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Operating Temperature: -55°C ~ 85°C, Applications: General Purpose, Thickness (Max): 0.022" (0.55mm), Capacitance: 4.3 µF.
Інші пропозиції CL05A435MR5NWNC за ціною від 1.86 грн до 8.73 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
CL05A435MR5NWNC | Виробник : Samsung Electro-Mechanics |
Description: CAP CER 4.3UF 4V X5R 0402 Tolerance: ±20% Features: Low ESL Packaging: Cut Tape (CT) Voltage - Rated: 4V Package / Case: 0402 (1005 Metric) Temperature Coefficient: X5R Size / Dimension: 0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 85°C Applications: General Purpose Thickness (Max): 0.022" (0.55mm) Capacitance: 4.3 µF |
на замовлення 92468 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||
 |
CL05A435MR5NWNC | Виробник : Samsung Electro-Mechanics |
Film Capacitors Boxed. Radial 35 x 50 x 42 |
товару немає в наявності |