CL05A435MR5NWNC Samsung Electro-Mechanics
Виробник: Samsung Electro-MechanicsDescription: CAP CER 4.3UF 4V X5R 0402
Tolerance: ±20%
Features: Low ESL
Packaging: Tape & Reel (TR)
Voltage - Rated: 4V
Package / Case: 0402 (1005 Metric)
Temperature Coefficient: X5R
Size / Dimension: 0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)
Mounting Type: Surface Mount, MLCC
Operating Temperature: -55°C ~ 85°C
Applications: General Purpose
Thickness (Max): 0.022" (0.55mm)
Capacitance: 4.3 µF
на замовлення 50000 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 10000+ | 1.35 грн |
| 20000+ | 1.29 грн |
| 30000+ | 1.28 грн |
| 50000+ | 1.17 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис CL05A435MR5NWNC Samsung Electro-Mechanics
Description: CAP CER 4.3UF 4V X5R 0402, Tolerance: ±20%, Features: Low ESL, Packaging: Tape & Reel (TR), Voltage - Rated: 4V, Package / Case: 0402 (1005 Metric), Temperature Coefficient: X5R, Size / Dimension: 0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm), Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Operating Temperature: -55°C ~ 85°C, Applications: General Purpose, Thickness (Max): 0.022" (0.55mm), Capacitance: 4.3 µF.
Інші пропозиції CL05A435MR5NWNC за ціною від 1.45 грн до 8.98 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
CL05A435MR5NWNC | Виробник : Samsung Electro-Mechanics |
Description: CAP CER 4.3UF 4V X5R 0402Tolerance: ±20% Features: Low ESL Packaging: Cut Tape (CT) Voltage - Rated: 4V Package / Case: 0402 (1005 Metric) Temperature Coefficient: X5R Size / Dimension: 0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 85°C Applications: General Purpose Thickness (Max): 0.022" (0.55mm) Capacitance: 4.3 µF |
на замовлення 50568 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||||
|
|
CL05A435MR5NWNC | Виробник : Samsung Electro-Mechanics |
Film Capacitors Boxed. Radial 35 x 50 x 42 |
товару немає в наявності |