на замовлення 200000 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 200000+ | 0.42 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис CL05B473KA5NNNC SAMSUNGEM
Description: CAP CER 0.047UF 25V X7R 0402, Tolerance: ±10%, Packaging: Tape & Reel (TR), Voltage - Rated: 25V, Package / Case: 0402 (1005 Metric), Temperature Coefficient: X7R, Size / Dimension: 0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm), Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Operating Temperature: -55°C ~ 125°C, Applications: General Purpose, Thickness (Max): 0.022" (0.55mm), Capacitance: 0.047 µF.
Інші пропозиції CL05B473KA5NNNC за ціною від 0.51 грн до 8.19 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
CL05B473KA5NNNC | Виробник : Samsung Electro-Mechanics |
Cap Ceramic 0.047uF 25V X7R 10% Pad SMD 0402 125°C T/R |
на замовлення 200000 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
|
CL05B473KA5NNNC | Виробник : Samsung Electro-Mechanics |
Cap Ceramic 0.047uF 25V X7R 10% Pad SMD 0402 125°C T/R |
на замовлення 200000 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
|
CL05B473KA5NNNC | Виробник : Samsung Electro-Mechanics |
Multilayer Ceramic Capacitors MLCC - SMD/SMT 47nF+/-10% 25V X7R 1 0402 |
на замовлення 65446 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
|
CL05B473KA5NNNC | Виробник : Samsung Electro-Mechanics |
Cap Ceramic 0.047uF 25V X7R 10% Pad SMD 0402 125°C T/R |
товару немає в наявності |
|||||||||||||||||
|
CL05B473KA5NNNC | Виробник : Samsung Electro-Mechanics |
Description: CAP CER 0.047UF 25V X7R 0402Tolerance: ±10% Packaging: Tape & Reel (TR) Voltage - Rated: 25V Package / Case: 0402 (1005 Metric) Temperature Coefficient: X7R Size / Dimension: 0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Applications: General Purpose Thickness (Max): 0.022" (0.55mm) Capacitance: 0.047 µF |
товару немає в наявності |



