CL31B102MJHNNNE Samsung Electro Mechanics
Виробник: Samsung Electro Mechanics
Конденсатор керамічний smd, С = 1 нФ, Uном, В = 2 000, ТКЄ = X7R, Точн., % = 20, Габ. розм., мм = 3.2 x 1.6, Т,°С = -55...+125, Тип сер. = CL31, Типорозм. = 1206,... Група товару: Конденсатори Корпус: 1206 Од. вим: 100 шт
кількість в упаковці: 2000 шт
товару немає в наявності
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис CL31B102MJHNNNE Samsung Electro Mechanics
Description: CAP CER 1000PF 2KV X7R 1206, Capacitance: 1000 pF, Thickness (Max): 0.071" (1.80mm), Applications: General Purpose, Operating Temperature: -55°C ~ 125°C, Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Size / Dimension: 0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm), Temperature Coefficient: X7R, Package / Case: 1206 (3216 Metric), Voltage - Rated: 2000V (2kV), Tolerance: ±20%, Packaging: Tape & Reel (TR).
Інші пропозиції CL31B102MJHNNNE
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна |
|---|---|---|---|---|---|
|
CL31B102MJHNNNE | Виробник : Samsung Electro-Mechanics |
Description: CAP CER 1000PF 2KV X7R 1206Capacitance: 1000 pF Thickness (Max): 0.071" (1.80mm) Applications: General Purpose Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Mounting Type: Surface Mount, MLCC Size / Dimension: 0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm) Temperature Coefficient: X7R Package / Case: 1206 (3216 Metric) Voltage - Rated: 2000V (2kV) Tolerance: ±20% Packaging: Tape & Reel (TR) |
товару немає в наявності |
|
|
CL31B102MJHNNNE | Виробник : Samsung Electro-Mechanics |
Description: CAP CER 1000PF 2KV X7R 1206Capacitance: 1000 pF Thickness (Max): 0.071" (1.80mm) Applications: General Purpose Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Mounting Type: Surface Mount, MLCC Size / Dimension: 0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm) Temperature Coefficient: X7R Package / Case: 1206 (3216 Metric) Voltage - Rated: 2000V (2kV) Tolerance: ±20% Packaging: Cut Tape (CT) |
товару немає в наявності |
|
|
|
CL31B102MJHNNNE | Виробник : Samsung Electro-Mechanics |
Multilayer Ceramic Capacitors MLCC - SMD/SMT |
товару немає в наявності |
