CL31B334KBHWPNE Samsung Electro-Mechanics
Виробник: Samsung Electro-Mechanics
Description: CAP CER 0.33UF 50V X7R 1206
Capacitance: 0.33 µF
Thickness (Max): 0.071" (1.80mm)
Ratings: AEC-Q200
Applications: Automotive
Operating Temperature: -55°C ~ 125°C
Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Epoxy
Size / Dimension: 0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm)
Temperature Coefficient: X7R
Package / Case: 1206 (3216 Metric)
Voltage - Rated: 50V
Features: Open Mode
Tolerance: ±10%
Packaging: Tape & Reel (TR)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 2000+ | 5.79 грн |
| 4000+ | 5.20 грн |
| 6000+ | 5.02 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис CL31B334KBHWPNE Samsung Electro-Mechanics
Description: CAP CER 0.33UF 50V X7R 1206, Capacitance: 0.33 µF, Thickness (Max): 0.071" (1.80mm), Ratings: AEC-Q200, Applications: Automotive, Operating Temperature: -55°C ~ 125°C, Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Epoxy, Size / Dimension: 0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm), Temperature Coefficient: X7R, Package / Case: 1206 (3216 Metric), Voltage - Rated: 50V, Features: Open Mode, Tolerance: ±10%, Packaging: Tape & Reel (TR).
Інші пропозиції CL31B334KBHWPNE за ціною від 5.65 грн до 22.69 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
CL31B334KBHWPNE | Виробник : Samsung Electro-Mechanics |
Description: CAP CER 0.33UF 50V X7R 1206Ratings: AEC-Q200 Applications: Automotive Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Epoxy Size / Dimension: 0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm) Temperature Coefficient: X7R Package / Case: 1206 (3216 Metric) Voltage - Rated: 50V Features: Open Mode Tolerance: ±10% Packaging: Cut Tape (CT) Capacitance: 0.33 µF Thickness (Max): 0.071" (1.80mm) |
на замовлення 9747 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||
|
CL31B334KBHWPNE | Виробник : Samsung Electro-Mechanics |
Multilayer Ceramic Capacitors MLCC - SMD/SMT 330nF+/-10% 50V X7R 1206 |
товару немає в наявності |
