
CMP-R500-1.0 Isabellenhuette USA

Description: RESISTOR - ISA-PLAN SHUNT, 0.5,
Power (Watts): 2W
Tolerance: ±1%
Features: Automotive AEC-Q200, Current Sense, Moisture Resistant, Pulse Withstanding
Packaging: Cut Tape (CT)
Package / Case: 2010 (5025 Metric)
Temperature Coefficient: ±50ppm/°C
Size / Dimension: 0.200" L x 0.100" W (5.08mm x 2.54mm)
Operating Temperature: -65°C ~ 170°C
Number of Terminations: 2
Supplier Device Package: 2010
Height - Seated (Max): 0.022" (0.55mm)
Resistance: 500 mOhms
на замовлення 7824 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Кількість | Ціна |
---|---|
3+ | 121.47 грн |
10+ | 67.81 грн |
25+ | 55.44 грн |
50+ | 44.95 грн |
100+ | 39.04 грн |
250+ | 32.69 грн |
500+ | 28.32 грн |
1000+ | 25.10 грн |
5000+ | 22.71 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис CMP-R500-1.0 Isabellenhuette USA
Description: RESISTOR - ISA-PLAN SHUNT, 0.5,, Power (Watts): 2W, Tolerance: ±1%, Features: Automotive AEC-Q200, Current Sense, Moisture Resistant, Pulse Withstanding, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: 2010 (5025 Metric), Temperature Coefficient: ±50ppm/°C, Size / Dimension: 0.200" L x 0.100" W (5.08mm x 2.54mm), Operating Temperature: -65°C ~ 170°C, Number of Terminations: 2, Supplier Device Package: 2010, Height - Seated (Max): 0.022" (0.55mm), Resistance: 500 mOhms.
Інші пропозиції CMP-R500-1.0
Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна |
---|---|---|---|---|---|
CMP-R500-1.0 | Виробник : Isabellenhütte Heusler GmbH & Co. KG |
![]() |
товару немає в наявності |
||
![]() |
CMP-R500-1.0 | Виробник : Isabellenhuette USA |
![]() Power (Watts): 2W Tolerance: ±1% Features: Automotive AEC-Q200, Current Sense, Moisture Resistant, Pulse Withstanding Packaging: Tape & Reel (TR) Package / Case: 2010 (5025 Metric) Temperature Coefficient: ±50ppm/°C Size / Dimension: 0.200" L x 0.100" W (5.08mm x 2.54mm) Operating Temperature: -65°C ~ 170°C Number of Terminations: 2 Supplier Device Package: 2010 Height - Seated (Max): 0.022" (0.55mm) Resistance: 500 mOhms |
товару немає в наявності |