
на замовлення 429 шт:
термін постачання 21-30 дні (днів)
Кількість | Ціна |
---|---|
5+ | 69.35 грн |
10+ | 60.32 грн |
100+ | 44.80 грн |
1000+ | 38.03 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис CX5032GA08000H0PST02 KYOCERA AVX
Description: CRYSTAL 8.0000MHZ 12PF SMD, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: 2-SMD, No Lead, Load Capacitance: 12pF, Size / Dimension: 0.197" L x 0.126" W (5.00mm x 3.20mm), Mounting Type: Surface Mount, Type: MHz Crystal, Operating Temperature: -40°C ~ 125°C, Frequency Stability: ±100ppm, Frequency Tolerance: ±50ppm, Operating Mode: Fundamental, Ratings: AEC-Q200, Height - Seated (Max): 0.059" (1.50mm), Part Status: Obsolete, ESR (Equivalent Series Resistance): 200 Ohms, Frequency: 8 MHz.
Інші пропозиції CX5032GA08000H0PST02
Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна |
---|---|---|---|---|---|
CX5032GA08000H0PST02 Код товару: 158533
Додати до обраних
Обраний товар
|
![]() |
товару немає в наявності
|
|||
![]() |
CX5032GA08000H0PST02 | Виробник : KYOCERA AVX |
![]() Packaging: Tape & Reel (TR) Package / Case: 2-SMD, No Lead Load Capacitance: 12pF Size / Dimension: 0.197" L x 0.126" W (5.00mm x 3.20mm) Mounting Type: Surface Mount Type: MHz Crystal Operating Temperature: -40°C ~ 125°C Frequency Stability: ±100ppm Frequency Tolerance: ±50ppm Operating Mode: Fundamental Ratings: AEC-Q200 Height - Seated (Max): 0.059" (1.50mm) Part Status: Obsolete ESR (Equivalent Series Resistance): 200 Ohms Frequency: 8 MHz |
товару немає в наявності |
|
![]() |
CX5032GA08000H0PST02 | Виробник : KYOCERA AVX |
![]() Packaging: Cut Tape (CT) Package / Case: 2-SMD, No Lead Load Capacitance: 12pF Size / Dimension: 0.197" L x 0.126" W (5.00mm x 3.20mm) Mounting Type: Surface Mount Type: MHz Crystal Operating Temperature: -40°C ~ 125°C Frequency Stability: ±100ppm Frequency Tolerance: ±50ppm Operating Mode: Fundamental Ratings: AEC-Q200 Height - Seated (Max): 0.059" (1.50mm) Part Status: Obsolete ESR (Equivalent Series Resistance): 200 Ohms Frequency: 8 MHz |
товару немає в наявності |