на замовлення 500 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 250+ | 346.99 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис DRV425RTJT Texas Instruments
Description: SENSOR FLUXGATE ANALOG 20QFN, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: 20-WFQFN Exposed Pad, Output Type: Analog Voltage, Mounting Type: Surface Mount, Axis: Single, Operating Temperature: -40°C ~ 125°C, Voltage - Supply: 3V ~ 5.5V, Bandwidth: 47kHz, 32kHz, Technology: Fluxgate, Sensing Range: ±2mT, Supplier Device Package: 20-QFN (4x4).
Інші пропозиції DRV425RTJT за ціною від 396.02 грн до 908.08 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 |
DRV425RTJT | Виробник : Texas Instruments |
 Description: SENSOR FLUXGATE ANALOG 20QFNPackaging: Tape & Reel (TR) Package / Case: 20-WFQFN Exposed Pad Output Type: Analog Voltage Mounting Type: Surface Mount Axis: Single Operating Temperature: -40°C ~ 125°C Voltage - Supply: 3V ~ 5.5V Bandwidth: 47kHz, 32kHz Technology: Fluxgate Sensing Range: ±2mT Supplier Device Package: 20-QFN (4x4) |
на замовлення 4000 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||
|
|
DRV425RTJT | Виробник : Texas Instruments |
Description: SENSOR FLUXGATE ANALOG 20QFN Packaging: Cut Tape (CT) Package / Case: 20-WFQFN Exposed Pad Output Type: Analog Voltage Mounting Type: Surface Mount Axis: Single Operating Temperature: -40°C ~ 125°C Voltage - Supply: 3V ~ 5.5V Bandwidth: 47kHz, 32kHz Technology: Fluxgate Sensing Range: ±2mT Supplier Device Package: 20-QFN (4x4) |
на замовлення 4044 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||
 |
DRV425RTJT | Виробник : Texas Instruments |
Board Mount Current Sensors Fully-integrated flu xgate magnetic senso A 595-DRV425RTJR |
на замовлення 1458 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
||||||||||||||
 |
DRV425RTJT | Виробник : Texas Instruments |
Hall Effect Sensor 300mA Differential 5V 20-Pin WQFN EP T/R |
товару немає в наявності |