ECQE1225KF Panasonic
на замовлення 500 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 500+ | 31.71 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис ECQE1225KF Panasonic
Description: CAP FILM 2.2UF 10% 100VDC RADIAL, Tolerance: ±10%, Packaging: Bulk, Package / Case: Radial, Mounting Type: Through Hole, Operating Temperature: -40°C ~ 105°C, Applications: General Purpose, Lead Spacing: 0.591" (15.00mm), Termination: PC Pins, Dielectric Material: Polyester, Metallized, Voltage Rating - DC: 100V, Height - Seated (Max): 0.630" (16.00mm), Part Status: Active, Capacitance: 2.2 µF, Size / Dimension: 0.728" L x 0.276" W (18.50mm x 7.00mm).
Інші пропозиції ECQE1225KF за ціною від 33.20 грн до 102.89 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
ECQ-E1225KF | Виробник : Panasonic |
Film Capacitors 100VDC 2.2uF 10% MPET L/S=15mm |
на замовлення 9135 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
|
|
ECQ-E1225KF | Виробник : Panasonic Electronic Components |
Description: CAP FILM 2.2UF 10% 100VDC RADIALTolerance: ±10% Packaging: Bulk Package / Case: Radial Mounting Type: Through Hole Operating Temperature: -40°C ~ 105°C Applications: General Purpose Lead Spacing: 0.591" (15.00mm) Termination: PC Pins Dielectric Material: Polyester, Metallized Voltage Rating - DC: 100V Height - Seated (Max): 0.630" (16.00mm) Part Status: Active Capacitance: 2.2 µF Size / Dimension: 0.728" L x 0.276" W (18.50mm x 7.00mm) |
на замовлення 4881 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
|
ECQE1225KF | Виробник : PANASONIC |
Category: THT Film CapacitorsDescription: Capacitor: polyester; 2.2uF; 100VDC; 15mm; ±10%; 18.5x7x15mm; ECQE Type of capacitor: polyester Manufacturer series: ECQE Capacitance: 2.2µF Operating voltage: 100V DC Body dimensions: 18.5x7x15mm Mounting: THT Tolerance: ±10% Terminal pitch: 15mm Operating temperature: -40...105°C |
товару немає в наявності |


