
на замовлення 2550 шт:
термін постачання 21-30 дні (днів)
Кількість | Ціна |
---|---|
15+ | 23.17 грн |
19+ | 18.78 грн |
100+ | 15.52 грн |
500+ | 15.01 грн |
1000+ | 12.58 грн |
3000+ | 11.48 грн |
9000+ | 11.11 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис ECS-184-20-3X-EN-TR ECS
Description: CRYSTAL 18.4320MHZ 20PF SMD, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: HC-49/US, Load Capacitance: 20pF, Size / Dimension: 0.276" L x 0.161" W (7.00mm x 4.10mm), Mounting Type: Surface Mount, Type: MHz Crystal, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Frequency Stability: ±50ppm, Frequency Tolerance: ±30ppm, Operating Mode: Fundamental, Height - Seated (Max): 0.091" (2.30mm), Part Status: Active, ESR (Equivalent Series Resistance): 50 Ohms, Frequency: 18.432 MHz.
Інші пропозиції ECS-184-20-3X-EN-TR за ціною від 15.03 грн до 23.87 грн
Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
ECS-184-20-3X-EN-TR | Виробник : ECS Inc. |
![]() Packaging: Cut Tape (CT) Package / Case: HC-49/US Load Capacitance: 20pF Size / Dimension: 0.276" L x 0.161" W (7.00mm x 4.10mm) Mounting Type: Surface Mount Type: MHz Crystal Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Frequency Stability: ±50ppm Frequency Tolerance: ±30ppm Operating Mode: Fundamental Height - Seated (Max): 0.091" (2.30mm) Part Status: Active ESR (Equivalent Series Resistance): 50 Ohms Frequency: 18.432 MHz |
на замовлення 941 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||
![]() |
ECS-184-20-3X-EN-TR | Виробник : ECS Inc. |
![]() Packaging: Tape & Reel (TR) Package / Case: HC-49/US Load Capacitance: 20pF Size / Dimension: 0.276" L x 0.161" W (7.00mm x 4.10mm) Mounting Type: Surface Mount Type: MHz Crystal Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Frequency Stability: ±50ppm Frequency Tolerance: ±30ppm Operating Mode: Fundamental Height - Seated (Max): 0.091" (2.30mm) Part Status: Active ESR (Equivalent Series Resistance): 50 Ohms Frequency: 18.432 MHz |
товару немає в наявності |