
EMK325B7226MM-PR Taiyo Yuden

Description: CAP CER 22UF 16V X7R 1210
Packaging: Tape & Reel (TR)
Tolerance: ±20%
Voltage - Rated: 16V
Package / Case: 1210 (3225 Metric)
Temperature Coefficient: X7R
Size / Dimension: 0.126" L x 0.098" W (3.20mm x 2.50mm)
Mounting Type: Surface Mount, MLCC
Operating Temperature: -55°C ~ 125°C
Applications: SMPS Filtering
Thickness (Max): 0.106" (2.70mm)
Part Status: Active
Capacitance: 22 µF
на замовлення 7000 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Кількість | Ціна |
---|---|
1000+ | 14.36 грн |
2000+ | 12.44 грн |
3000+ | 12.27 грн |
5000+ | 11.35 грн |
7000+ | 11.17 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис EMK325B7226MM-PR Taiyo Yuden
Description: CAP CER 22UF 16V X7R 1210, Packaging: Tape & Reel (TR), Tolerance: ±20%, Voltage - Rated: 16V, Package / Case: 1210 (3225 Metric), Temperature Coefficient: X7R, Size / Dimension: 0.126" L x 0.098" W (3.20mm x 2.50mm), Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Operating Temperature: -55°C ~ 125°C, Applications: SMPS Filtering, Thickness (Max): 0.106" (2.70mm), Part Status: Active, Capacitance: 22 µF.
Інші пропозиції EMK325B7226MM-PR за ціною від 10.37 грн до 46.95 грн
Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
EMK325B7226MM-PR | Виробник : Taiyo Yuden |
![]() |
на замовлення 17919 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
![]() |
EMK325B7226MM-PR | Виробник : Taiyo Yuden |
![]() Packaging: Cut Tape (CT) Tolerance: ±20% Voltage - Rated: 16V Package / Case: 1210 (3225 Metric) Temperature Coefficient: X7R Size / Dimension: 0.126" L x 0.098" W (3.20mm x 2.50mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Applications: SMPS Filtering Thickness (Max): 0.106" (2.70mm) Part Status: Active Capacitance: 22 µF |
на замовлення 9085 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
![]() |
EMK325B7226MM-PR | Виробник : Taiyo Yuden |
![]() |
товару немає в наявності |