
ETQ-P6F4R1LFA Panasonic Electronic Components

Description: FIXED IND 4.1UH 7.9A 8.64MOHM SM
Tolerance: ±20%
Packaging: Cut Tape (CT)
Package / Case: 2-SMD, J-Lead
Size / Dimension: 0.492" L x 0.492" W (12.50mm x 12.50mm)
Mounting Type: Surface Mount
Shielding: Shielded
DC Resistance (DCR): 8.64mOhm Max
Current - Saturation (Isat): 10.8A
Material - Core: Ferrite
Inductance Frequency - Test: 100 kHz
Height - Seated (Max): 0.224" (5.70mm)
Inductance: 4.1 µH
Current Rating (Amps): 7.9 A
на замовлення 1313 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Кількість | Ціна |
---|---|
3+ | 120.10 грн |
10+ | 81.71 грн |
25+ | 73.78 грн |
50+ | 64.82 грн |
100+ | 62.08 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис ETQ-P6F4R1LFA Panasonic Electronic Components
Description: FIXED IND 4.1UH 7.9A 8.64MOHM SM, Packaging: Tape & Reel (TR), Tolerance: ±20%, Package / Case: 2-SMD, J-Lead, Size / Dimension: 0.492" L x 0.492" W (12.50mm x 12.50mm), Mounting Type: Surface Mount, Shielding: Shielded, DC Resistance (DCR): 8.64mOhm Max, Current - Saturation (Isat): 10.8A, Material - Core: Ferrite, Inductance Frequency - Test: 100 kHz, Height - Seated (Max): 0.224" (5.70mm), Inductance: 4.1 µH, Current Rating (Amps): 7.9 A.
Інші пропозиції ETQ-P6F4R1LFA
Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна |
---|---|---|---|---|---|
![]() |
ETQ-P6F4R1LFA | Виробник : Panasonic |
![]() |
на замовлення 1842 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
ETQP6F4R1LFA | Виробник : PANASONIC |
на замовлення 1000 шт: термін постачання 14-28 дні (днів) |
|||
![]() |
ETQ-P6F4R1LFA | Виробник : Panasonic Electronic Components |
![]() Packaging: Tape & Reel (TR) Tolerance: ±20% Package / Case: 2-SMD, J-Lead Size / Dimension: 0.492" L x 0.492" W (12.50mm x 12.50mm) Mounting Type: Surface Mount Shielding: Shielded DC Resistance (DCR): 8.64mOhm Max Current - Saturation (Isat): 10.8A Material - Core: Ferrite Inductance Frequency - Test: 100 kHz Height - Seated (Max): 0.224" (5.70mm) Inductance: 4.1 µH Current Rating (Amps): 7.9 A |
товару немає в наявності |