FL3200038Z Diodes Incorporated
на замовлення 1630 шт:
термін постачання 21-30 дні (днів)
Кількість | Ціна |
---|---|
7+ | 51.07 грн |
10+ | 45.18 грн |
100+ | 32.44 грн |
500+ | 30.75 грн |
1000+ | 25.60 грн |
3000+ | 24.79 грн |
6000+ | 24.50 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис FL3200038Z Diodes Incorporated
Description: CRYSTAL 32.0000MHZ 10PF SMD, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: 4-SMD, No Lead, Load Capacitance: 10pF, Size / Dimension: 0.126" L x 0.098" W (3.20mm x 2.50mm), Mounting Type: Surface Mount, Type: MHz Crystal, Operating Temperature: -20°C ~ 75°C, Frequency Stability: ±10ppm, Frequency Tolerance: ±10ppm, Operating Mode: Fundamental, Height - Seated (Max): 0.030" (0.75mm), ESR (Equivalent Series Resistance): 40 Ohms, Frequency: 32 MHz.
Інші пропозиції FL3200038Z
Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна |
---|---|---|---|---|---|
![]() |
FL3200038Z | Виробник : Diodes Inc |
![]() |
товару немає в наявності |
|
![]() |
FL3200038Z | Виробник : Diodes Zetex |
![]() |
товару немає в наявності |
|
![]() |
FL3200038Z | Виробник : Diodes Incorporated |
![]() Packaging: Tape & Reel (TR) Package / Case: 4-SMD, No Lead Load Capacitance: 10pF Size / Dimension: 0.126" L x 0.098" W (3.20mm x 2.50mm) Mounting Type: Surface Mount Type: MHz Crystal Operating Temperature: -20°C ~ 75°C Frequency Stability: ±10ppm Frequency Tolerance: ±10ppm Operating Mode: Fundamental Height - Seated (Max): 0.030" (0.75mm) ESR (Equivalent Series Resistance): 40 Ohms Frequency: 32 MHz |
товару немає в наявності |
|
![]() |
FL3200038Z | Виробник : Diodes Incorporated |
![]() Packaging: Cut Tape (CT) Package / Case: 4-SMD, No Lead Load Capacitance: 10pF Size / Dimension: 0.126" L x 0.098" W (3.20mm x 2.50mm) Mounting Type: Surface Mount Type: MHz Crystal Operating Temperature: -20°C ~ 75°C Frequency Stability: ±10ppm Frequency Tolerance: ±10ppm Operating Mode: Fundamental Height - Seated (Max): 0.030" (0.75mm) ESR (Equivalent Series Resistance): 40 Ohms Frequency: 32 MHz |
товару немає в наявності |