
GC332QD7LP104KX18K Murata Electronics

Multilayer Ceramic Capacitors MLCC - SMD/SMT 0.1 uF 450 VDC 10% 1210 X7T AEC-Q200
на замовлення 629 шт:
термін постачання 21-30 дні (днів)
Кількість | Ціна |
---|---|
8+ | 46.31 грн |
17+ | 21.30 грн |
100+ | 14.06 грн |
500+ | 12.10 грн |
2500+ | 11.72 грн |
5000+ | 11.27 грн |
8000+ | 10.28 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис GC332QD7LP104KX18K Murata Electronics
Description: CAP CER 0.1UF 450V X7T 1210, Tolerance: ±10%, Packaging: Tape & Reel (TR), Voltage - Rated: 450V, Package / Case: 1210 (3225 Metric), Temperature Coefficient: X7T, Size / Dimension: 0.126" L x 0.098" W (3.20mm x 2.50mm), Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Operating Temperature: -55°C ~ 125°C, Applications: Automotive, Ratings: AEC-Q200, Thickness (Max): 0.059" (1.50mm), Part Status: Active, Capacitance: 0.1 µF.
Інші пропозиції GC332QD7LP104KX18K за ціною від 11.56 грн до 48.26 грн
Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
GC332QD7LP104KX18K | Виробник : Murata Electronics |
![]() Tolerance: ±10% Packaging: Cut Tape (CT) Voltage - Rated: 450V Package / Case: 1210 (3225 Metric) Temperature Coefficient: X7T Size / Dimension: 0.126" L x 0.098" W (3.20mm x 2.50mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Applications: Automotive Ratings: AEC-Q200 Thickness (Max): 0.059" (1.50mm) Part Status: Active Capacitance: 0.1 µF |
на замовлення 4032 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||
![]() |
GC332QD7LP104KX18K | Виробник : Murata Electronics |
![]() Tolerance: ±10% Packaging: Tape & Reel (TR) Voltage - Rated: 450V Package / Case: 1210 (3225 Metric) Temperature Coefficient: X7T Size / Dimension: 0.126" L x 0.098" W (3.20mm x 2.50mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Applications: Automotive Ratings: AEC-Q200 Thickness (Max): 0.059" (1.50mm) Part Status: Active Capacitance: 0.1 µF |
товару немає в наявності |