
GJM0335C1E5R2CB01D Murata Electronics

Multilayer Ceramic Capacitors MLCC - SMD/SMT 5.2 pF 25 VDC 0.25 pF 0201 C0G (NP0)
на замовлення 90 шт:
термін постачання 21-30 дні (днів)
Кількість | Ціна |
---|---|
44+ | 7.96 грн |
191+ | 1.77 грн |
500+ | 0.59 грн |
1000+ | 0.44 грн |
10000+ | 0.37 грн |
15000+ | 0.29 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис GJM0335C1E5R2CB01D Murata Electronics
Description: CAP CER 5.2PF 25V NP0 0201, Packaging: Tape & Reel (TR), Tolerance: ±0.25pF, Features: High Q, Low Loss, Voltage - Rated: 25V, Package / Case: 0201 (0603 Metric), Temperature Coefficient: C0G, NP0, Size / Dimension: 0.024" L x 0.012" W (0.60mm x 0.30mm), Mounting Type: Surface Mount, Operating Temperature: -55°C ~ 125°C, Applications: RF, Microwave, High Frequency, Thickness (Max): 0.013" (0.33mm), Part Status: Active, Capacitance: 5.2 pF.
Інші пропозиції GJM0335C1E5R2CB01D
Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна |
---|---|---|---|---|---|
GJM0335C1E5R2CB01D | Виробник : MURATA |
![]() |
товару немає в наявності |
||
![]() |
GJM0335C1E5R2CB01D | Виробник : Murata Electronics |
![]() Packaging: Tape & Reel (TR) Tolerance: ±0.25pF Features: High Q, Low Loss Voltage - Rated: 25V Package / Case: 0201 (0603 Metric) Temperature Coefficient: C0G, NP0 Size / Dimension: 0.024" L x 0.012" W (0.60mm x 0.30mm) Mounting Type: Surface Mount Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Applications: RF, Microwave, High Frequency Thickness (Max): 0.013" (0.33mm) Part Status: Active Capacitance: 5.2 pF |
товару немає в наявності |
|
![]() |
GJM0335C1E5R2CB01D | Виробник : Murata Electronics |
![]() Packaging: Cut Tape (CT) Tolerance: ±0.25pF Features: High Q, Low Loss Voltage - Rated: 25V Package / Case: 0201 (0603 Metric) Temperature Coefficient: C0G, NP0 Size / Dimension: 0.024" L x 0.012" W (0.60mm x 0.30mm) Mounting Type: Surface Mount Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Applications: RF, Microwave, High Frequency Thickness (Max): 0.013" (0.33mm) Part Status: Active Capacitance: 5.2 pF |
товару немає в наявності |