GRM32E5C2J333FWAAL Murata Electronics
Виробник: Murata ElectronicsDescription: CAP CER 33000PF 630V C0G 1210
Tolerance: ±1%
Packaging: Cut Tape (CT)
Voltage - Rated: 630V
Package / Case: 1210 (3225 Metric)
Temperature Coefficient: C0G, NP0
Size / Dimension: 0.126" L x 0.098" W (3.20mm x 2.50mm)
Mounting Type: Surface Mount, MLCC
Operating Temperature: -55°C ~ 125°C
Applications: General Purpose
Thickness (Max): 0.112" (2.85mm)
Capacitance: 0.033 µF
на замовлення 819 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 2+ | 234.06 грн |
| 10+ | 145.55 грн |
| 50+ | 130.92 грн |
| 100+ | 114.42 грн |
| 500+ | 101.29 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис GRM32E5C2J333FWAAL Murata Electronics
Description: CAP CER 33000PF 630V C0G 1210, Tolerance: ±1%, Packaging: Tape & Reel (TR), Voltage - Rated: 630V, Package / Case: 1210 (3225 Metric), Temperature Coefficient: C0G, NP0, Size / Dimension: 0.126" L x 0.098" W (3.20mm x 2.50mm), Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Operating Temperature: -55°C ~ 125°C, Applications: General Purpose, Thickness (Max): 0.112" (2.85mm), Capacitance: 0.033 µF.
Інші пропозиції GRM32E5C2J333FWAAL за ціною від 79.80 грн до 269.45 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 |
GRM32E5C2J333FWAAL | Виробник : Murata Electronics |
Multilayer Ceramic Capacitors MLCC - SMD/SMT 0.033 uF 630 VDC 1% 1210 C0G (NP0) |
на замовлення 1123 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
||||||||||||||
|
|
GRM32E5C2J333FWAAL | Виробник : Murata Electronics |
Description: CAP CER 33000PF 630V C0G 1210 Tolerance: ±1% Packaging: Tape & Reel (TR) Voltage - Rated: 630V Package / Case: 1210 (3225 Metric) Temperature Coefficient: C0G, NP0 Size / Dimension: 0.126" L x 0.098" W (3.20mm x 2.50mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Applications: General Purpose Thickness (Max): 0.112" (2.85mm) Capacitance: 0.033 µF |
товару немає в наявності |