GRM32RR71C475KA01K Murata Electronics
Виробник: Murata Electronics
Multilayer Ceramic Capacitors MLCC - SMD/SMT 4.7 uF 16 VDC 10% 1210 X7R
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 5+ | 65.68 грн |
| 10+ | 63.22 грн |
| 100+ | 40.41 грн |
| 500+ | 33.23 грн |
| 1000+ | 30.86 грн |
| 2000+ | 19.37 грн |
| 4000+ | 17.91 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис GRM32RR71C475KA01K Murata Electronics
Description: CAP CER 4.7UF 16V X7R 1210, Temperature Coefficient: X7R, Package / Case: 1210 (3225 Metric), Voltage - Rated: 16V, Tolerance: ±10%, Packaging: Tape & Reel (TR), Capacitance: 4.7 µF, Part Status: Not For New Designs, Thickness (Max): 0.079" (2.00mm), Applications: General Purpose, Operating Temperature: -55°C ~ 125°C, Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Size / Dimension: 0.126" L x 0.098" W (3.20mm x 2.50mm).
Інші пропозиції GRM32RR71C475KA01K
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна |
|---|---|---|---|---|---|
| GRM32RR71C475KA01K | Виробник : MURATA |
10+ |
на замовлення 200180 шт: термін постачання 14-28 дні (днів) |
||
|
GRM32RR71C475KA01K | Виробник : Murata Electronics |
Description: CAP CER 4.7UF 16V X7R 1210Temperature Coefficient: X7R Package / Case: 1210 (3225 Metric) Voltage - Rated: 16V Tolerance: ±10% Packaging: Tape & Reel (TR) Capacitance: 4.7 µF Part Status: Not For New Designs Thickness (Max): 0.079" (2.00mm) Applications: General Purpose Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Mounting Type: Surface Mount, MLCC Size / Dimension: 0.126" L x 0.098" W (3.20mm x 2.50mm) |
товару немає в наявності |
|
|
GRM32RR71C475KA01K | Виробник : Murata Electronics |
Description: CAP CER 4.7UF 16V X7R 1210Capacitance: 4.7 µF Part Status: Not For New Designs Thickness (Max): 0.079" (2.00mm) Applications: General Purpose Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Mounting Type: Surface Mount, MLCC Size / Dimension: 0.126" L x 0.098" W (3.20mm x 2.50mm) Temperature Coefficient: X7R Package / Case: 1210 (3225 Metric) Voltage - Rated: 16V Tolerance: ±10% Packaging: Cut Tape (CT) |
товару немає в наявності |
