GRT21BD71H225KE13K Murata Electronics
Виробник: Murata ElectronicsMultilayer Ceramic Capacitors MLCC - SMD/SMT 0805 2.2uF 50VDC 10% X7T AEC-Q200
на замовлення 17037 шт:
термін постачання 21-30 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 11+ | 34.16 грн |
| 24+ | 15.05 грн |
| 100+ | 10.38 грн |
| 500+ | 8.52 грн |
| 1000+ | 8.36 грн |
| 2500+ | 8.21 грн |
| 5000+ | 7.74 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис GRT21BD71H225KE13K Murata Electronics
Description: CAP CER 2.2UF 50V X7T 0805, Tolerance: ±10%, Packaging: Tape & Reel (TR), Voltage - Rated: 50V, Package / Case: 0805 (2012 Metric), Temperature Coefficient: X7T, Size / Dimension: 0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm), Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Operating Temperature: -55°C ~ 125°C, Applications: Automotive, Thickness (Max): 0.057" (1.45mm), Capacitance: 2.2 µF.
Інші пропозиції GRT21BD71H225KE13K за ціною від 10.04 грн до 45.24 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
GRT21BD71H225KE13K | Виробник : Murata Electronics |
Description: CAP CER 2.2UF 50V X7T 0805Tolerance: ±10% Packaging: Cut Tape (CT) Voltage - Rated: 50V Package / Case: 0805 (2012 Metric) Temperature Coefficient: X7T Size / Dimension: 0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Applications: Automotive Thickness (Max): 0.057" (1.45mm) Capacitance: 2.2 µF |
на замовлення 4833 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
|
GRT21BD71H225KE13K | Виробник : Murata Electronics |
Description: CAP CER 2.2UF 50V X7T 0805Tolerance: ±10% Packaging: Tape & Reel (TR) Voltage - Rated: 50V Package / Case: 0805 (2012 Metric) Temperature Coefficient: X7T Size / Dimension: 0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Applications: Automotive Thickness (Max): 0.057" (1.45mm) Capacitance: 2.2 µF |
товару немає в наявності |
