.jpg "HMK105B7332KV-F")
HMK105B7332KV-F Taiyo Yuden
Виробник: Taiyo YudenDescription: CAP CER 3300PF 100V X7R 0402
Packaging: Cut Tape (CT)
Tolerance: ±10%
Voltage - Rated: 100V
Package / Case: 0402 (1005 Metric)
Temperature Coefficient: X7R
Size / Dimension: 0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)
Mounting Type: Surface Mount, MLCC
Operating Temperature: -55°C ~ 125°C
Applications: SMPS Filtering
Thickness (Max): 0.022" (0.55mm)
Capacitance: 3300 pF
на замовлення 2215 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 19+ | 17.96 грн |
| 29+ | 11.08 грн |
| 50+ | 7.04 грн |
| 100+ | 5.28 грн |
| 500+ | 3.82 грн |
| 1000+ | 3.37 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис HMK105B7332KV-F Taiyo Yuden
Description: CAP CER 3300PF 100V X7R 0402, Packaging: Tape & Reel (TR), Tolerance: ±10%, Voltage - Rated: 100V, Package / Case: 0402 (1005 Metric), Temperature Coefficient: X7R, Size / Dimension: 0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm), Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Operating Temperature: -55°C ~ 125°C, Applications: SMPS Filtering, Thickness (Max): 0.022" (0.55mm), Capacitance: 3300 pF.
Інші пропозиції HMK105B7332KV-F за ціною від 2.57 грн до 19.63 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 |
HMK105B7332KV-F | Виробник : Taiyo Yuden |
Multilayer Ceramic Capacitors MLCC - SMD/SMT RPLCMT PN 963-MSASH105SB7332KF 100V 3300pF X7R 0402 10 % |
на замовлення 6292 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
|
|
HMK105B7332KV-F | Виробник : Taiyo Yuden |
Description: CAP CER 3300PF 100V X7R 0402 Packaging: Tape & Reel (TR) Tolerance: ±10% Voltage - Rated: 100V Package / Case: 0402 (1005 Metric) Temperature Coefficient: X7R Size / Dimension: 0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Applications: SMPS Filtering Thickness (Max): 0.022" (0.55mm) Capacitance: 3300 pF |
товару немає в наявності |