
на замовлення 681 шт:
термін постачання 189-198 дні (днів)
Кількість | Ціна |
---|---|
1+ | 552.74 грн |
10+ | 543.15 грн |
25+ | 471.57 грн |
100+ | 448.77 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис JANTX1N5416 Microchip / Microsemi
Description: DIODE GEN PURP 100V 3A AXIAL, Packaging: Bulk, Package / Case: B, Axial, Mounting Type: Through Hole, Speed: Fast Recovery =< 500ns, > 200mA (Io), Reverse Recovery Time (trr): 150 ns, Technology: Standard, Current - Average Rectified (Io): 3A, Supplier Device Package: B, Axial, Operating Temperature - Junction: -65°C ~ 175°C, Grade: Military, Voltage - DC Reverse (Vr) (Max): 100 V, Voltage - Forward (Vf) (Max) @ If: 1.5 V @ 9 A, Current - Reverse Leakage @ Vr: 1 µA @ 100 V, Qualification: MIL-PRF-19500/411.
Інші пропозиції JANTX1N5416
Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна |
---|---|---|---|---|---|
JANTX1N5416 | Виробник : Semtech |
![]() |
товару немає в наявності |
||
![]() |
JANTX1N5416 | Виробник : Microchip Technology |
![]() Packaging: Bulk Package / Case: B, Axial Mounting Type: Through Hole Speed: Fast Recovery =< 500ns, > 200mA (Io) Reverse Recovery Time (trr): 150 ns Technology: Standard Current - Average Rectified (Io): 3A Supplier Device Package: B, Axial Operating Temperature - Junction: -65°C ~ 175°C Grade: Military Voltage - DC Reverse (Vr) (Max): 100 V Voltage - Forward (Vf) (Max) @ If: 1.5 V @ 9 A Current - Reverse Leakage @ Vr: 1 µA @ 100 V Qualification: MIL-PRF-19500/411 |
товару немає в наявності |
|
JANTX1N5416 | Виробник : Semtech Corporation |
![]() Packaging: Bulk Package / Case: Axial Mounting Type: Through Hole Speed: Fast Recovery =< 500ns, > 200mA (Io) Reverse Recovery Time (trr): 150 ns Technology: Standard Capacitance @ Vr, F: 430pF @ 4V, 1MHz Current - Average Rectified (Io): 4.5A Supplier Device Package: Axial Grade: Military Voltage - DC Reverse (Vr) (Max): 100 V Voltage - Forward (Vf) (Max) @ If: 1.1 V @ 3 A Current - Reverse Leakage @ Vr: 1 µA @ 100 V Qualification: MIL-PRF-19500/411 |
товару немає в наявності |