KGM21NR71H104MM KYOCERA AVX
Виробник: KYOCERA AVXDescription: CAP CER 0.1UF 50V X7R 0805
Packaging: Tape & Reel (TR)
Tolerance: ±20%
Voltage - Rated: 50V
Package / Case: 0805 (2012 Metric)
Temperature Coefficient: X7R
Size / Dimension: 0.079" L x 0.049" W (2.01mm x 1.25mm)
Mounting Type: Surface Mount, MLCC
Operating Temperature: -55°C ~ 125°C
Applications: General Purpose
Thickness (Max): 0.039" (1.00mm)
Capacitance: 0.1 µF
на замовлення 15000 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 15000+ | 1.40 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис KGM21NR71H104MM KYOCERA AVX
Description: CAP CER 0.1UF 50V X7R 0805, Packaging: Tape & Reel (TR), Tolerance: ±20%, Voltage - Rated: 50V, Package / Case: 0805 (2012 Metric), Temperature Coefficient: X7R, Size / Dimension: 0.079" L x 0.049" W (2.01mm x 1.25mm), Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Operating Temperature: -55°C ~ 125°C, Applications: General Purpose, Thickness (Max): 0.039" (1.00mm), Capacitance: 0.1 µF.
Інші пропозиції KGM21NR71H104MM за ціною від 1.40 грн до 11.16 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
KGM21NR71H104MM | Виробник : KYOCERA AVX |
Description: CAP CER 0.1UF 50V X7R 0805 Tolerance: ±20% Packaging: Cut Tape (CT) Voltage - Rated: 50V Package / Case: 0805 (2012 Metric) Temperature Coefficient: X7R Size / Dimension: 0.079" L x 0.049" W (2.01mm x 1.25mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Applications: General Purpose Thickness (Max): 0.039" (1.00mm) Capacitance: 0.1 µF |
на замовлення 29000 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
| KGM21NR71H104MM | Виробник : KYOCERA AVX |
Multilayer Ceramic Capacitors MLCC - SMD/SMT 50V .1uF X7R 0805 20 % |
на замовлення 26104 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
|||||||||||||||||
| KGM21NR71H104MM | Виробник : KYOCERA AVX |
KGM21NR71H104MM MLCC SMD capacitors |
товару немає в наявності |