KGM31MR71H224MU KYOCERA AVX
Виробник: KYOCERA AVXDescription: CAP CER 0.22UF 50V X7R 1206
Tolerance: ±20%
Packaging: Tape & Reel (TR)
Voltage - Rated: 50V
Package / Case: 1206 (3216 Metric)
Temperature Coefficient: X7R
Size / Dimension: 0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm)
Mounting Type: Surface Mount, MLCC
Operating Temperature: -55°C ~ 125°C
Applications: General Purpose
Thickness (Max): 0.049" (1.25mm)
Capacitance: 0.22 µF
на замовлення 12000 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 4000+ | 6.17 грн |
| 8000+ | 5.53 грн |
| 12000+ | 5.31 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис KGM31MR71H224MU KYOCERA AVX
Description: CAP CER 0.22UF 50V X7R 1206, Tolerance: ±20%, Packaging: Tape & Reel (TR), Voltage - Rated: 50V, Package / Case: 1206 (3216 Metric), Temperature Coefficient: X7R, Size / Dimension: 0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm), Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Operating Temperature: -55°C ~ 125°C, Applications: General Purpose, Thickness (Max): 0.049" (1.25mm), Capacitance: 0.22 µF.
Інші пропозиції KGM31MR71H224MU за ціною від 6.53 грн до 22.36 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
KGM31MR71H224MU | Виробник : KYOCERA AVX |
Description: CAP CER 0.22UF 50V X7R 1206 Tolerance: ±20% Packaging: Cut Tape (CT) Voltage - Rated: 50V Package / Case: 1206 (3216 Metric) Temperature Coefficient: X7R Size / Dimension: 0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Applications: General Purpose Thickness (Max): 0.049" (1.25mm) Capacitance: 0.22 µF |
на замовлення 12042 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||
 |
KGM31MR71H224MU | Виробник : Kyocera AVX Components |
Cap Ceramic 0.22uF 50V X7R 20% Pad SMD 1206 125C T/R |
товару немає в наявності |
|||||||||||
| KGM31MR71H224MU | Виробник : KYOCERA AVX |
Multilayer Ceramic Capacitors MLCC - SMD/SMT 50V .22uF X7R 1206 2 0% |
товару немає в наявності |